리던던트 프로세서 에러 검출을 위한 디바이스, 시스템, 및 프로세스

• Main Authors: VENU BALAJI, OZER EMRE, ITURBE XABIER
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 08.12.2020
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; PHYSICS

간략하게, 복수의 프로세싱 코어들을 포함하는 멀티-프로세싱 코어 록스텝 컴퓨팅 디바이스에서, 복수의 프로세싱 코어들 중 적어도 2개의 프로세싱 코어들에 의해 생성된 출력 신호들의 관측들에 적어도 부분적으로 기반하여, 잠재적인 에러들의 표시자들을 결정하도록 전체적으로 또는 부분적으로 구현될 수 있는 예시적인 방법들, 장치들, 및/또는 제조 물품들이 개시된다. 이어서, BIST(built-in self-test) 절차는 결정되는 표시자들에 적어도 부분적으로 기반할 수 있다. Briefly, example methods, apparatuses, and/or articles of manufacture are disclosed that may be implemented, in whole or in part, to determine indicators of potential errors in a multi-processing core lockstep computing device comprising a plurality of processing cores, based, at least in part, on observations of output signals generated by at least two processing cores of the plurality of processing cores. A built-in self-test (BIST) procedure may then be based, at least in part, on the determining indicators.