SELF-ALIGNED GATE EDGE AND LOCAL INTERCONNECT AND METHOD TO FABRICATE SAME
자기 정렬 게이트 에지 및 로컬 상호접속 구조들, 및 자기 정렬 게이트 에지 및 로컬 상호접속 구조들의 제조 방법이 설명된다. 일례에서, 반도체 구조는 기판 위에 배치되고 제1 방향으로 길이를 갖는 반도체 핀을 포함한다. 게이트 구조가 반도체 핀 위에 배치되며, 게이트 구조는 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 제2 단부에 대향하는 제1 단부를 갖는다. 게이트 에지 분리 구조들의 쌍이 반도체 핀의 중앙에 배치된다. 게이트 에지 분리 구조들의 쌍 중 제1 게이트 에지 분리 구조가 게이트 구조의 제1 단부에 바로 인접하게 배치되고, 게이...
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Main Authors | , , , |
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Format | Patent |
Language | English Korean |
Published |
14.07.2020
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Abstract | 자기 정렬 게이트 에지 및 로컬 상호접속 구조들, 및 자기 정렬 게이트 에지 및 로컬 상호접속 구조들의 제조 방법이 설명된다. 일례에서, 반도체 구조는 기판 위에 배치되고 제1 방향으로 길이를 갖는 반도체 핀을 포함한다. 게이트 구조가 반도체 핀 위에 배치되며, 게이트 구조는 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 제2 단부에 대향하는 제1 단부를 갖는다. 게이트 에지 분리 구조들의 쌍이 반도체 핀의 중앙에 배치된다. 게이트 에지 분리 구조들의 쌍 중 제1 게이트 에지 분리 구조가 게이트 구조의 제1 단부에 바로 인접하게 배치되고, 게이트 에지 분리 구조들의 쌍 중 제2 게이트 에지 분리 구조가 게이트 구조의 제2 단부에 바로 인접하게 배치된다.
Self-aligned gate edge and local interconnect structures and methods of fabricating self-aligned gate edge and local interconnect structures are described. In an example, a semiconductor structure includes a semiconductor fin disposed above a substrate and having a length in a first direction. A gate structure is disposed over the semiconductor fin, the gate structure having a first end opposite a second end in a second direction, orthogonal to the first direction. A pair of gate edge isolation structures is centered with the semiconductor fin. A first of the pair of gate edge isolation structures is disposed directly adjacent to the first end of the gate structure, and a second of the pair of gate edge isolation structures is disposed directly adjacent to the second end of the gate structure. |
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AbstractList | 자기 정렬 게이트 에지 및 로컬 상호접속 구조들, 및 자기 정렬 게이트 에지 및 로컬 상호접속 구조들의 제조 방법이 설명된다. 일례에서, 반도체 구조는 기판 위에 배치되고 제1 방향으로 길이를 갖는 반도체 핀을 포함한다. 게이트 구조가 반도체 핀 위에 배치되며, 게이트 구조는 제1 방향에 수직인 제2 방향으로 제2 단부에 대향하는 제1 단부를 갖는다. 게이트 에지 분리 구조들의 쌍이 반도체 핀의 중앙에 배치된다. 게이트 에지 분리 구조들의 쌍 중 제1 게이트 에지 분리 구조가 게이트 구조의 제1 단부에 바로 인접하게 배치되고, 게이트 에지 분리 구조들의 쌍 중 제2 게이트 에지 분리 구조가 게이트 구조의 제2 단부에 바로 인접하게 배치된다.
Self-aligned gate edge and local interconnect structures and methods of fabricating self-aligned gate edge and local interconnect structures are described. In an example, a semiconductor structure includes a semiconductor fin disposed above a substrate and having a length in a first direction. A gate structure is disposed over the semiconductor fin, the gate structure having a first end opposite a second end in a second direction, orthogonal to the first direction. A pair of gate edge isolation structures is centered with the semiconductor fin. A first of the pair of gate edge isolation structures is disposed directly adjacent to the first end of the gate structure, and a second of the pair of gate edge isolation structures is disposed directly adjacent to the second end of the gate structure. |
Author | BOHR MARK WEBB MILTON CLAIR LIAO SZUYA S GHANI TAHIR |
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