TRANSPARENT PLATE SURFACE INSPECTION DEVICE TRANSPARENT PLATE SURFACE INSPECTION METHOD AND GLASS PLATE MANUFACTURING METHOD

본 발명은, 검사 정밀도를 향상시킨 투명판 표면 검사 장치를 제공하기 위한 것이다. 투명판의 주표면을 검사하는 투명판 표면 검사 장치이며, 스트라이프 패턴을 포함하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광이 상기 주표면에서 반사된 앞쪽에 설치되는 라인 센서 카메라와, 촬상된 상기 스트라이프 패턴의 화상을 화상 처리하는 화상 처리 장치를 구비하고, 상기 라인 센서 카메라는, 소정 방향으로 배열되는 복수의 화소를 포함하는 촬상 소자와, 상기 스트라이프 패턴을 상기 촬상 소자에 결상하는 렌즈를 갖고, 상기 광원 및 상기 촬상 소자는, 양쪽 모두...

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Main Authors KIMURA TOMONORI, KITAYAMA DAISUKE, IKENOTA MINORU, HIGASHIYAMA AKIHIRO, ARITA YUSUKE
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 23.10.2017
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Abstract 본 발명은, 검사 정밀도를 향상시킨 투명판 표면 검사 장치를 제공하기 위한 것이다. 투명판의 주표면을 검사하는 투명판 표면 검사 장치이며, 스트라이프 패턴을 포함하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광이 상기 주표면에서 반사된 앞쪽에 설치되는 라인 센서 카메라와, 촬상된 상기 스트라이프 패턴의 화상을 화상 처리하는 화상 처리 장치를 구비하고, 상기 라인 센서 카메라는, 소정 방향으로 배열되는 복수의 화소를 포함하는 촬상 소자와, 상기 스트라이프 패턴을 상기 촬상 소자에 결상하는 렌즈를 갖고, 상기 광원 및 상기 촬상 소자는, 양쪽 모두 상기 주표면의 편측에 배치되고, 또한, 각각 상기 주표면에 비스듬히 대향하고, 상기 소정 방향의 일단부에 배치되는 상기 화소의 상기 주표면에 있어서의 촬상 스폿의 면적(S1)과, 상기 소정 방향의 타단부에 배치되는 상기 화소의 상기 주표면에 있어서의 촬상 스폿의 면적(S2(S2>S1))의 비(S1/S2)가 0.20 이상인, 투명판 표면 검사 장치가 제공된다. The invention provides a transparent plate surface inspection device with improved inspection precision. The device is the transparent plate surface inspection device for inspecting main surface of a transparent plate, the device comprises a light source containing stripe pattern, a line sensor camera arranged on reflection portion of a light from the light source on the main surface and an image processing device for performing image processing on the shot stripe pattern, the line sensor camera comprises a shooting element containing a plurality of pixels arranged in a specified direction, a lens for enabling the stripe pattern to image on the shooting element, the light source and the shooting element are configured on one side of the main surface, respectively face to the main surface and are opposite in inclined direction, a ratio (S1/S2) of an area (S1) of the pixels configured on one end of the specified direction on a shooting point of the main surface and an area (S2(S2-S1)) of the pixels configured on the other end of the specified direction on the shooting point of the main surface is greater than 0.20.
AbstractList 본 발명은, 검사 정밀도를 향상시킨 투명판 표면 검사 장치를 제공하기 위한 것이다. 투명판의 주표면을 검사하는 투명판 표면 검사 장치이며, 스트라이프 패턴을 포함하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광이 상기 주표면에서 반사된 앞쪽에 설치되는 라인 센서 카메라와, 촬상된 상기 스트라이프 패턴의 화상을 화상 처리하는 화상 처리 장치를 구비하고, 상기 라인 센서 카메라는, 소정 방향으로 배열되는 복수의 화소를 포함하는 촬상 소자와, 상기 스트라이프 패턴을 상기 촬상 소자에 결상하는 렌즈를 갖고, 상기 광원 및 상기 촬상 소자는, 양쪽 모두 상기 주표면의 편측에 배치되고, 또한, 각각 상기 주표면에 비스듬히 대향하고, 상기 소정 방향의 일단부에 배치되는 상기 화소의 상기 주표면에 있어서의 촬상 스폿의 면적(S1)과, 상기 소정 방향의 타단부에 배치되는 상기 화소의 상기 주표면에 있어서의 촬상 스폿의 면적(S2(S2>S1))의 비(S1/S2)가 0.20 이상인, 투명판 표면 검사 장치가 제공된다. The invention provides a transparent plate surface inspection device with improved inspection precision. The device is the transparent plate surface inspection device for inspecting main surface of a transparent plate, the device comprises a light source containing stripe pattern, a line sensor camera arranged on reflection portion of a light from the light source on the main surface and an image processing device for performing image processing on the shot stripe pattern, the line sensor camera comprises a shooting element containing a plurality of pixels arranged in a specified direction, a lens for enabling the stripe pattern to image on the shooting element, the light source and the shooting element are configured on one side of the main surface, respectively face to the main surface and are opposite in inclined direction, a ratio (S1/S2) of an area (S1) of the pixels configured on one end of the specified direction on a shooting point of the main surface and an area (S2(S2-S1)) of the pixels configured on the other end of the specified direction on the shooting point of the main surface is greater than 0.20.
Author HIGASHIYAMA AKIHIRO
KIMURA TOMONORI
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