ONBOARD DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING FLUID IN A HEAT ENGINE
본 발명은 제품을 분석하기 위한 분광기를 제어하기 위한 방법에 관한 것이며, 상기 방법은 광원(LS)의 작동을 나타내는 측정치(LFL, TPL, Ix, Vx)를 획득하는 단계, 작동 측정치에 의존하여, 광원의 공급 전류(LCx)의 값, 및/또는 광원에 의해 방사된 광빔(LB)의 루트 상에 배치되고 분석될 제품과 상호 작용한, 센서(OPS)의 광검출기(y)들의 적분 시간(ITy)의 값을 결정하고, 적분 시간 및/또는 공급 전류값이 임계값들 사이에 있으면, 결정된 공급 전류값에 대응하는 공급 전류를 상기 광원에 공급하는 단계, 결정된...
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| Main Authors | , |
|---|---|
| Format | Patent |
| Language | English Korean |
| Published |
12.10.2015
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| Subjects | |
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| Abstract | 본 발명은 제품을 분석하기 위한 분광기를 제어하기 위한 방법에 관한 것이며, 상기 방법은 광원(LS)의 작동을 나타내는 측정치(LFL, TPL, Ix, Vx)를 획득하는 단계, 작동 측정치에 의존하여, 광원의 공급 전류(LCx)의 값, 및/또는 광원에 의해 방사된 광빔(LB)의 루트 상에 배치되고 분석될 제품과 상호 작용한, 센서(OPS)의 광검출기(y)들의 적분 시간(ITy)의 값을 결정하고, 적분 시간 및/또는 공급 전류값이 임계값들 사이에 있으면, 결정된 공급 전류값에 대응하는 공급 전류를 상기 광원에 공급하는 단계, 결정된 적분 시간값으로 광검출기의 적분 시간값을 조정하는 단계, 센서에 의해 공급된 광 세기 측정치(MSy)를 획득하여, 스펙트럼이 형성되는 것을 가능하게 하는 단계를 포함한다. |
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| AbstractList | 본 발명은 제품을 분석하기 위한 분광기를 제어하기 위한 방법에 관한 것이며, 상기 방법은 광원(LS)의 작동을 나타내는 측정치(LFL, TPL, Ix, Vx)를 획득하는 단계, 작동 측정치에 의존하여, 광원의 공급 전류(LCx)의 값, 및/또는 광원에 의해 방사된 광빔(LB)의 루트 상에 배치되고 분석될 제품과 상호 작용한, 센서(OPS)의 광검출기(y)들의 적분 시간(ITy)의 값을 결정하고, 적분 시간 및/또는 공급 전류값이 임계값들 사이에 있으면, 결정된 공급 전류값에 대응하는 공급 전류를 상기 광원에 공급하는 단계, 결정된 적분 시간값으로 광검출기의 적분 시간값을 조정하는 단계, 센서에 의해 공급된 광 세기 측정치(MSy)를 획득하여, 스펙트럼이 형성되는 것을 가능하게 하는 단계를 포함한다. |
| Author | OBERTI SYLVAIN FOURNEL JOHAN |
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| DocumentTitleAlternate | 열기관에서 유체를 분석하기 위한 온보드 디바이스 및 방법 |
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| SubjectTerms | INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING |
| Title | ONBOARD DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING FLUID IN A HEAT ENGINE |
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