RAPID RELAY SYSTEM FOR LED INSPECTION APPARATUS

A data relay system for obtaining information at a high speed according to the present invention comprises: a plurality of test units for testing one or more test objects through a pre-programmed technique according to an inputted start command, and generating and outputting test result information...

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Main Author HAN, JOO HUN
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 08.06.2015
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Abstract A data relay system for obtaining information at a high speed according to the present invention comprises: a plurality of test units for testing one or more test objects through a pre-programmed technique according to an inputted start command, and generating and outputting test result information after the test(s) is/are finished; a main computer for outputting the start command by appointing at least one or all of the test units, and receiving the test result information from each of the appointed test units; and a Tx control unit for receiving and transmitting the start command from the main computer, as a relay module for relaying the start command and the test result information between the main computer and the test unit; a plurality of sub-relaying modules installed respectively corresponding to the test units, receiving the start command from the Tx control unit, transmitting the start command to the appointed test units, and receiving and transmitting the test result information transmitted from the appointed test units; and an Rx control unit for storing the test result information received from the sub-relaying modules in a memory and integrally transmitting all of the test result information stored in the memory to the control computer when all of the appointed test units are confirmed to be completed in the test(s). The data relay system is provided to test an LED inspection device. 본 발명에 따른 정보의 고속 획득을 위한 데이터 중계 시스템은 입력되는 시작 명령에 따라, 하나 또는 복수의 테스트 대상을 미리프로그램된 방식으로 테스트한 후, 테스트가 완료되면 테스트 결과 정보를 생성하여 출력하는 복수의 테스트 유닛들; 상기 테스트 유닛들 중 적어도 하나 또는 모두를 지정하여 상기 시작 명령을 출력하고, 상기 지정된 테스트 유닛의 각각으로부터 상기 테스트 결과 정보를 수신하는 메인 컴퓨터; 및 상기 메인 컴퓨터와 상기 테스트 유닛의 사이에서 상기 시작 명령 및 상기 테스트 결과 정보를 중계하는 중계 모듈로서, 상기 메인 컴퓨터로부터 상기 시작 명령을 수신하여 송신하는 Tx 제어부, 상기 테스트 유닛들과 각각 대응하게 설치되어 상기 Tx 제어부로부터 상기 시작 명령을 수신하여 상기 지정된 테스트 유닛들로 시작명령을 송신하고, 상기 지정된 테스트 유닛들에서 송신하는 상기 테스트 결과 정보를 수신하여 송신하는 복수의 서브 중계 모듈들 및 상기 서브 중계 모듈들로부터 수신한 테스트 결과 정보를 메모리에 저장하고 상기 지정된 테스트 유닛 전부가 테스트를 완료한 것을 확인하면 상기 메모리에 저장된 상기 테스트 결과 정보 전부를 상기 제어 컴퓨터로 일괄 전송하는 Rx 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 검사장치를 테스트하기 위한 데이터 중계 시스템을 제공한다.
AbstractList A data relay system for obtaining information at a high speed according to the present invention comprises: a plurality of test units for testing one or more test objects through a pre-programmed technique according to an inputted start command, and generating and outputting test result information after the test(s) is/are finished; a main computer for outputting the start command by appointing at least one or all of the test units, and receiving the test result information from each of the appointed test units; and a Tx control unit for receiving and transmitting the start command from the main computer, as a relay module for relaying the start command and the test result information between the main computer and the test unit; a plurality of sub-relaying modules installed respectively corresponding to the test units, receiving the start command from the Tx control unit, transmitting the start command to the appointed test units, and receiving and transmitting the test result information transmitted from the appointed test units; and an Rx control unit for storing the test result information received from the sub-relaying modules in a memory and integrally transmitting all of the test result information stored in the memory to the control computer when all of the appointed test units are confirmed to be completed in the test(s). The data relay system is provided to test an LED inspection device. 본 발명에 따른 정보의 고속 획득을 위한 데이터 중계 시스템은 입력되는 시작 명령에 따라, 하나 또는 복수의 테스트 대상을 미리프로그램된 방식으로 테스트한 후, 테스트가 완료되면 테스트 결과 정보를 생성하여 출력하는 복수의 테스트 유닛들; 상기 테스트 유닛들 중 적어도 하나 또는 모두를 지정하여 상기 시작 명령을 출력하고, 상기 지정된 테스트 유닛의 각각으로부터 상기 테스트 결과 정보를 수신하는 메인 컴퓨터; 및 상기 메인 컴퓨터와 상기 테스트 유닛의 사이에서 상기 시작 명령 및 상기 테스트 결과 정보를 중계하는 중계 모듈로서, 상기 메인 컴퓨터로부터 상기 시작 명령을 수신하여 송신하는 Tx 제어부, 상기 테스트 유닛들과 각각 대응하게 설치되어 상기 Tx 제어부로부터 상기 시작 명령을 수신하여 상기 지정된 테스트 유닛들로 시작명령을 송신하고, 상기 지정된 테스트 유닛들에서 송신하는 상기 테스트 결과 정보를 수신하여 송신하는 복수의 서브 중계 모듈들 및 상기 서브 중계 모듈들로부터 수신한 테스트 결과 정보를 메모리에 저장하고 상기 지정된 테스트 유닛 전부가 테스트를 완료한 것을 확인하면 상기 메모리에 저장된 상기 테스트 결과 정보 전부를 상기 제어 컴퓨터로 일괄 전송하는 Rx 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 검사장치를 테스트하기 위한 데이터 중계 시스템을 제공한다.
Author HAN, JOO HUN
Author_xml – fullname: HAN, JOO HUN
BookMark eNrjYmDJy89L5WTQD3IM8HRRCHL1cYxUCI4MDnH1VXDzD1LwcXVR8PQLDnB1DvH091NwDAhwDHIMCQ3mYWBNS8wpTuWF0twMym6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXx3kFGBoamBgZmRuZG5o7GxKkCAJ4KKKs
ContentType Patent
DBID EVB
DatabaseName esp@cenet
DatabaseTitleList
Database_xml – sequence: 1
  dbid: EVB
  name: esp@cenet
  url: http://worldwide.espacenet.com/singleLineSearch?locale=en_EP
  sourceTypes: Open Access Repository
DeliveryMethod fulltext_linktorsrc
Discipline Medicine
Chemistry
Sciences
DocumentTitleAlternate LED 검사 장치를 위한 고속 중계 시스템
ExternalDocumentID KR20150062727A
GroupedDBID EVB
ID FETCH-epo_espacenet_KR20150062727A3
IEDL.DBID EVB
IngestDate Fri Jul 19 11:32:11 EDT 2024
IsOpenAccess true
IsPeerReviewed false
IsScholarly false
Language English
Korean
LinkModel DirectLink
MergedId FETCHMERGED-epo_espacenet_KR20150062727A3
Notes Application Number: KR20130147681
OpenAccessLink https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150608&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20150062727A
ParticipantIDs epo_espacenet_KR20150062727A
PublicationCentury 2000
PublicationDate 20150608
PublicationDateYYYYMMDD 2015-06-08
PublicationDate_xml – month: 06
  year: 2015
  text: 20150608
  day: 08
PublicationDecade 2010
PublicationYear 2015
RelatedCompanies THINK WIN TEK
RelatedCompanies_xml – name: THINK WIN TEK
Score 2.9460874
Snippet A data relay system for obtaining information at a high speed according to the present invention comprises: a plurality of test units for testing one or more...
SourceID epo
SourceType Open Access Repository
SubjectTerms ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
ELECTRICITY
TRANSMISSION
WIRELESS COMMUNICATIONS NETWORKS
Title RAPID RELAY SYSTEM FOR LED INSPECTION APPARATUS
URI https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150608&DB=EPODOC&locale=&CC=KR&NR=20150062727A
hasFullText 1
inHoldings 1
isFullTextHit
isPrint
link http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwfV3dS8MwED_mFPVNp-LHlIDSt7J23br0oUjXtEznttJ2sj2NfiQgSjtcxX_fJG66p70lObh8wN1xye9-AXhIe5gxliaqrmdMlOQkKqampmYJTjMzt6w8k2iLsTmYdp5n3VkNPja1MJIn9FuSI3KLyri9V9JfL_8vsYjEVq5a6RsfKh_92CbKOjuWdHlYIX3bCyZk4iquaw9DZRz-ygQlb7vn7MG-IN4STPvea1_UpSy3g4p_AgcB11dUp1B7Lxtw5G7-XmvA4Wj95M2ba-tbnUErdIIngsQvF3MUzaPYGyGexKEXjyCehAeeBIQgJwic0Imn0Tnc-17sDlQ-8-Jvo4thuL1M4wLqRVnQS0DU0rtU527V4PkcozhpU40ZGu4kicX0LL-C5i5N17vFN3AsuhIAhZtQrz6_6C0PtVV6J0_oB8aNfds
link.rule.ids 230,308,780,885,25564,76547
linkProvider European Patent Office
linkToHtml http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwfV3dT8IwEL8gGvFNUeMHahPN3hY2PrbugZixjYCDsWzDwNOyjTYxmo3IjP--bQXlibeml1w_krv22t_9DuAp1TGlNE1kVc0oT8lJZEw0Rc4SnGba0jCWmUBbeNpw1nmZd-cV-Njmwgie0G9BjsgsKmP2Xgp_vfp_xLIFtnLdTN9YV_E8iHq2tImOBV0elux-z_Gn9tSSLKvnBpIX_Mo4JW9LNw_gUOc1d_nl6bXP81JWu4fK4BSOfKYvL8-g8l7UoWZta6_V4Xiy-fJmzY31rc-hGZj-yEa8ysUChYswciaIBXFo7NiIBeG-IwAhyPR9MzCjWXgBjwMnsoYyGzn-W2jsBrvTbF9CNS9ycgWIGGqXqMyttlk8RwlOWkShbQV3ksSgara8hsY-TTf7xQ9QG0aTcTweee4tnHCRAEPhBlTLzy9yx47dMr0Xu_UD1jGAzA
openUrl ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info%3Aofi%2Fenc%3AUTF-8&rfr_id=info%3Asid%2Fsummon.serialssolutions.com&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Apatent&rft.title=RAPID+RELAY+SYSTEM+FOR+LED+INSPECTION+APPARATUS&rft.inventor=HAN%2C+JOO+HUN&rft.date=2015-06-08&rft.externalDBID=A&rft.externalDocID=KR20150062727A