TEST SELECTION PROGRAM, TEST SELECTION METHOD, AND TEST SELECTION DEVICE

• Main Authors: TAKAYAMA KUNIHARU, MIZOBUCHI YUJI, MUNAKATA SATOSHI
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 11.07.2016
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; PHYSICS

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test selection program, a test selection method and a test selection device for improving the extraction accuracy of a test related to a designated test among a plurality of tests of an object program.SOLUTION: A test selection device 1 includes: a generation part 2 for generating relevancy information including information showing the presence/absence of relationship between a plurality of first tests and a plurality of second tests for each pair and related number information showing the number of pairs having relationship among a plurality of pairs by using the execution results of a plurality of first tests and the execution results of a plurality of second tests; an extraction part 3 for, when a specific test included in the plurality of first tests is designated, extracting a related test related to the specific test from the plurality of second tests on the basis of the relevance information and the related number information; and a determination part 4 for, when the execution of the specific test included in the plurality of first tests is instructed, determining an execution order of the extracted related test on the basis of the relevancy information of the pair of the specific test and the related test.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】対象プログラムの複数のテストのうち、指定されたテストに関連するテストの抽出精度を向上するテスト選択プログラム、テスト選択方法及びテスト選択装置を提供する。【解決手段】テスト選択装置１は、複数の第１テストの実行結果と複数の第２テストの実行結果とを用いて、複数の第１テストと複数の第２テストとの間のペア毎の関連の有無を示す情報を含む関連性情報と、複数のペアのうち関連を有するペアの数を示す関連数情報と、を生成する生成部２と、複数の第１テストに含まれる特定のテストが指定された場合、関連性情報と関連数情報とに基づいて、特定のテストに関連する関連テストを複数の第２テストから抽出する抽出部３と、複数の第１テストに含まれる特定のテストの実行を指示された場合、特定のテストと関連テストのペアの関連度情報に基づいて、抽出した関連テストの実行順序を決定する決定部４、とを含む。【選択図】図１