PROCEDE DE CRIBLAGE POUR CONDENSATEURS ELECTROLYTIQUES

• Main Authors: LEINONEN, MARK, BEAULIEU, MARC V, MILLMAN, WILLIAM A, MILLER, MICHAEL I
• Format: Patent
• Language: French
• Published: 12.04.2019
• Subjects: ELECTRICITY; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

Un procédé de criblage itératif (100) d'un échantillon de condensateurs électrolytiques ayant une tension nominale prédéterminée est proposé. Le procédé peut inclure la mesure (108) d'un premier courant de fuite d'un premier jeu de condensateurs, le calcul d'une première moyenne à partir de celui-ci, et le retrait de condensateurs du premier jeu ayant un premier courant de fuite égal ou supérieur à une première valeur prédéterminée, formant ainsi un deuxième jeu de condensateurs. Le deuxième jeu peut être soumis à un traitement thermique de déverminage (114) où une tension d'essai peut être appliquée, puis un deuxième courant de fuite du deuxième jeu de condensateurs peut être mesuré et une deuxième moyenne peut être calculée. Des condensateurs ayant un deuxième courant de fuite égal ou supérieur à une seconde valeur prédéterminée peuvent être retirés du deuxième jeu, formant un troisième jeu de condensateurs. A method of iteratively screening a sample of electrolytic capacitors having a predetermined rated voltage is provided. The method can include measuring a first leakage current of a first set of capacitors, calculating a first mean leakage current therefrom, and removing capacitors from the first set having a first leakage current equal to or above a first predetermined value, thereby forming a second set of capacitors. The second set can be subjected to a burn in heat treatment where a test voltage can be applied, then a second leakage current of the second set of capacitors can be measured and a second mean leakage current can be calculated. Capacitors having a second leakage current equal to or above a second predetermined value can be removed from the second set, forming a third set of capacitors. Because of such iterative screening, the capacitors in the third set have low failure rates.