Messsystem zur Absolutwerterfassung von Winkeln oder Wegen

• Main Author: RODI, ANTON
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 22.05.2014
• Subjects: ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; PHYSICS; TARIFF METERING APPARATUS; TESTING

Messsystem zur Absolutwerterfassung von Winkeln oder Wegen, bei dem ein Maßstab (1) eine Messspur (2, 3) zur Absolutwertbildung aufweist, die von einem dazugehörigen Abtastkopf erfasst wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Messspur (2, 3) aus wenigstens zwei in gleicher Weise absolutcodiert ausgebildeten Teilstrecken (1a bis 1c) zur Absolutwerterfassung zusammengesetzt ist, und die Messspur (2, 3) zur Bestimmung des Absolutwerts der jeweils erreichten Teilstrecke (1a bis 1c) mittels einer weiteren Sensoranardnung im Abtastkopf benutzt wird und dass der Absolutwert der jeweils erreichten Teilstrecke (1a bis 1c) bis zu einem Wiedereinschalten der Netzversorgung des Messsystems gespeichert wird, und dass Schaltmittel vorgesehen sind, die aus dem Absolutwert der Teilstrecken (1a bis 1c) und dem ermittelten Absolutwert innerhalb der Teilstrecke (1a bis 1c) den Gesamtabsolutwert im Abtastkopf bilden und zur Weiterverarbeitung zur Verfügung stellen.