Verfahren zum Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit eines Prüflings mit einer Prüfvorrichtung, Prüfvorrichtung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit eines Prüflings (2) mit einer Prüfvorrichtung (1), wobei der Prüfling (2) eine Vielzahl von ansteuerbaren ersten elektrischen oder elektronischen Bauteilen (4) aufweist, mit folgenden Schritten: Schalten zumindes...
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Format | Patent |
Language | German |
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17.08.2023
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Abstract | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit eines Prüflings (2) mit einer Prüfvorrichtung (1), wobei der Prüfling (2) eine Vielzahl von ansteuerbaren ersten elektrischen oder elektronischen Bauteilen (4) aufweist, mit folgenden Schritten: Schalten zumindest eines ansteuerbaren zweiten Bauteils (5) parallel zu oder in Reihe mit einem der ersten Bauteile (4), sodass diese ein Bauteilpaar (6) bilden, Ansteuern des zweiten Bauteils (5) mit einer elektrischen Signalfolge derart, dass eine elektrische Eigenschaft des ersten Bauteils (4), durch welche eine Störstrahlung des ersten Bauteils (4) beeinflusst wird, in Abhängigkeit von der Signalfolge verändert wird, Ermitteln einer von dem Prüfling (2) in einem vorgegebenen Betriebsmodus ausgehenden Prüflings-Störstrahlung (12), und Ermitteln des Anteils der Störstrahlung des ersten Bauteils (4) an der Prüflings-Störstrahlung (12) in Abhängigkeit von der elektrischen Eigenschaft des ersten Bauteils (4) und der Signalfolge. |
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AbstractList | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen der elektromagnetischen Verträglichkeit eines Prüflings (2) mit einer Prüfvorrichtung (1), wobei der Prüfling (2) eine Vielzahl von ansteuerbaren ersten elektrischen oder elektronischen Bauteilen (4) aufweist, mit folgenden Schritten: Schalten zumindest eines ansteuerbaren zweiten Bauteils (5) parallel zu oder in Reihe mit einem der ersten Bauteile (4), sodass diese ein Bauteilpaar (6) bilden, Ansteuern des zweiten Bauteils (5) mit einer elektrischen Signalfolge derart, dass eine elektrische Eigenschaft des ersten Bauteils (4), durch welche eine Störstrahlung des ersten Bauteils (4) beeinflusst wird, in Abhängigkeit von der Signalfolge verändert wird, Ermitteln einer von dem Prüfling (2) in einem vorgegebenen Betriebsmodus ausgehenden Prüflings-Störstrahlung (12), und Ermitteln des Anteils der Störstrahlung des ersten Bauteils (4) an der Prüflings-Störstrahlung (12) in Abhängigkeit von der elektrischen Eigenschaft des ersten Bauteils (4) und der Signalfolge. |
Author | Huebl, Jochen Kralicek, Peter |
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