Messsystem und Messverfahren

• Main Authors: Fantini, Douglas Marques, Kossira, Martin
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 09.03.2023
• Subjects: ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT; MEASURING; MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION,OR SHOCK; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICALDEVICES; MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY; PERFORMING OPERATIONS; PHYSICS; TARIFF METERING APPARATUS; TESTING; TRANSPORTING

Die Erfindung betrifft ein Messsystem mit mindestens einer mikroelektromechanischen, MEMS,-Messeinrichtung und einer Auswerteeinrichtung. Jede MEMS-Messeinrichtung umfasst einen Speicher sowie einen Zähler, welcher dazu ausgebildet ist, mit einer Zählfrequenz in Inkrementierschritten einen in dem Speicher gespeicherten Zählerwert zu inkrementieren, wobei die MEMS-Messeinrichtung dazu ausgebildet ist, jeweils nach einer vorgegebenen Anzahl von Inkrementierschritten einen Messwert zu generieren und in dem Speicher zu speichern. Die Auswerteeinrichtung ist dazu ausgebildet ist, mit einer vorgegebenen Lesefrequenz aktuelle Zählerwerte und aktuelle Messwerte aus dem Speicher der mindestens einen MEMS-Messeinrichtung auszulesen. Die Auswerteeinrichtung ist weiter dazu ausgebildet, für die ausgelesenen Messwerte anhand des Zählerwerts ein Alter des Messwerts von dem Generieren des Messwerts bis zu dem Auslesen des Messwerts zu bestimmen. Die Auswerteeinrichtung ist weiter dazu ausgebildet, durch Interpolation von ausgelesenen Messwerten und unter Berücksichtigung des Alters der ausgelesenen Messwerte korrigierte Messwerte für den Zeitpunkt des Auslesens des Messwerts zu berechnen.