Instrument und Verfahren zur schnellen Multiskalenanalyse von Einschlüssen von Material auf der Grundlage einer Mikrofotografiematrix

• Main Authors: Chen, Jiwen, Yuan, Liangjing, Yang, Chun, Yu, Lei, Zhang, Qiaochu, Jia, Yunhai
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 17.03.2022
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; TESTING

Instrument zur schnellen Multiskalenanalyse von Einschlüssen von Material auf der Grundlage einer Mikrofotografiematrix, wobei das Instrument ein Mikrofotografiematrixsystem (1), eine numerisch gesteuerte dreidimensionale Hochpräzisionswerkbank (2), eine Computerarbeitsgruppe und ein Steuerungs- und...