Röntgendetektor aufweisend eine Stapelanordnung
Die Erfindung betrifft eine Röntgendetektoreinheit (1) umfassend eine erste Stapellage (2) und eine zweite Stapellage (4) in einer Stapelanordnung, wobei die erste Stapellage (2) ein Konverterelement (3) umfasst, welches dazu ausgebildet ist eintreffende Röntgenstrahlung in ein elektrisches Signal u...
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Format | Patent |
Language | German |
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20.05.2020
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Abstract | Die Erfindung betrifft eine Röntgendetektoreinheit (1) umfassend eine erste Stapellage (2) und eine zweite Stapellage (4) in einer Stapelanordnung, wobei die erste Stapellage (2) ein Konverterelement (3) umfasst, welches dazu ausgebildet ist eintreffende Röntgenstrahlung in ein elektrisches Signal umzuwandeln, die erste Stapellage (2) außerdem erste elektrisch leitende Kontaktelemente (7) auf einer der zweiten Stapellage (4) zugewandten Kontaktseite in einer ersten Anzahldichte (A1) pro Flächeneinheit aufweist, die zweite Stapellage (4) zweite elektrisch leitende Kontaktelemente (9) auf einer der ersten Stapellage (2) zugewandten Gegenkontaktseite der zweiten Stapellage (4) in einer zweiten Anzahldichte (A2) pro Flächeneinheit aufweist, wobei die erste Anzahldichte (A1) größer ist als die zweite Anzahldichte (A2), und jeder der zweiten elektrisch leitenden Kontaktelemente (9) eine Mehrzahl an ersten elektrisch leitenden Kontaktelementen (7) elektrisch leitend kontaktiert.
An X-ray detector unit includes a first stack layer and a second stack layer in a stack arrangement. In an embodiment, the first stack layer includes a converter element to convert incident X-rays into an electrical signal, and includes first electrically conductive contact elements on a contact side facing the second stack layer, in a first number density per unit surface area. The second stack layer includes second electrically conductive contact elements on a counter-contact side facing the first stack layer, of the second stack layer, in a second number density per unit surface area. The first number density is greater than the second number density and each of the second electrically conductive contact elements makes electrically conductive contact with a plurality of first electrically conductive contact elements. |
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AbstractList | Die Erfindung betrifft eine Röntgendetektoreinheit (1) umfassend eine erste Stapellage (2) und eine zweite Stapellage (4) in einer Stapelanordnung, wobei die erste Stapellage (2) ein Konverterelement (3) umfasst, welches dazu ausgebildet ist eintreffende Röntgenstrahlung in ein elektrisches Signal umzuwandeln, die erste Stapellage (2) außerdem erste elektrisch leitende Kontaktelemente (7) auf einer der zweiten Stapellage (4) zugewandten Kontaktseite in einer ersten Anzahldichte (A1) pro Flächeneinheit aufweist, die zweite Stapellage (4) zweite elektrisch leitende Kontaktelemente (9) auf einer der ersten Stapellage (2) zugewandten Gegenkontaktseite der zweiten Stapellage (4) in einer zweiten Anzahldichte (A2) pro Flächeneinheit aufweist, wobei die erste Anzahldichte (A1) größer ist als die zweite Anzahldichte (A2), und jeder der zweiten elektrisch leitenden Kontaktelemente (9) eine Mehrzahl an ersten elektrisch leitenden Kontaktelementen (7) elektrisch leitend kontaktiert.
An X-ray detector unit includes a first stack layer and a second stack layer in a stack arrangement. In an embodiment, the first stack layer includes a converter element to convert incident X-rays into an electrical signal, and includes first electrically conductive contact elements on a contact side facing the second stack layer, in a first number density per unit surface area. The second stack layer includes second electrically conductive contact elements on a counter-contact side facing the first stack layer, of the second stack layer, in a second number density per unit surface area. The first number density is greater than the second number density and each of the second electrically conductive contact elements makes electrically conductive contact with a plurality of first electrically conductive contact elements. |
Author | Ergler, Thorsten |
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SubjectTerms | BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES IRRADIATION DEVICES MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION MEASURING NUCLEAR ENGINEERING NUCLEAR PHYSICS PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOTOTHERWISE PROVIDED FOR TESTING |
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