Verfahren zum Messen der Permittiviät eines Materials

Ein Verfahren zum Messen der Permittivität (ε) eines Materials (30) umfasst die folgenden Schritte. Ein Messstab (14) eines Materialniveausensors (10) wird in einen Behälter (20) eingeführt. Der Materialniveausensor (10) setzt eine Materialniveaumessung des Materials (30) fort, um einen ersten Merkm...

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Main Authors Hou, Yi-Liang, Cheng, Chao-Kai, Lin, I-Chu, Chang, Liang-Chi, Chung, Shyh-Jong
Format Patent
LanguageGerman
Published 13.04.2017
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Abstract Ein Verfahren zum Messen der Permittivität (ε) eines Materials (30) umfasst die folgenden Schritte. Ein Messstab (14) eines Materialniveausensors (10) wird in einen Behälter (20) eingeführt. Der Materialniveausensor (10) setzt eine Materialniveaumessung des Materials (30) fort, um einen ersten Merkmalswert zu erhalten. Der Materialniveausensor (10) wird vertikal mit einem vertikalen Abstand (Hair) bewegt. Der Materialniveausensor (10) setzt die Materialniveaumessung fort, um einen zweiten Merkmalswert zu erhalten, und subtrahiert den ersten Merkmalswert vom zweiten Merkmalswert, um eine Merkmalswertvariation zu erhalten, und berechnet die Merkmalswertvariation, um die Permittivität (ε) des Materials (30) zu erhalten.
AbstractList Ein Verfahren zum Messen der Permittivität (ε) eines Materials (30) umfasst die folgenden Schritte. Ein Messstab (14) eines Materialniveausensors (10) wird in einen Behälter (20) eingeführt. Der Materialniveausensor (10) setzt eine Materialniveaumessung des Materials (30) fort, um einen ersten Merkmalswert zu erhalten. Der Materialniveausensor (10) wird vertikal mit einem vertikalen Abstand (Hair) bewegt. Der Materialniveausensor (10) setzt die Materialniveaumessung fort, um einen zweiten Merkmalswert zu erhalten, und subtrahiert den ersten Merkmalswert vom zweiten Merkmalswert, um eine Merkmalswertvariation zu erhalten, und berechnet die Merkmalswertvariation, um die Permittivität (ε) des Materials (30) zu erhalten.
Author Chang, Liang-Chi
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