Verfahren zum Messen der Permittiviät eines Materials
Ein Verfahren zum Messen der Permittivität (ε) eines Materials (30) umfasst die folgenden Schritte. Ein Messstab (14) eines Materialniveausensors (10) wird in einen Behälter (20) eingeführt. Der Materialniveausensor (10) setzt eine Materialniveaumessung des Materials (30) fort, um einen ersten Merkm...
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Main Authors | , , , , |
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Format | Patent |
Language | German |
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13.04.2017
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Abstract | Ein Verfahren zum Messen der Permittivität (ε) eines Materials (30) umfasst die folgenden Schritte. Ein Messstab (14) eines Materialniveausensors (10) wird in einen Behälter (20) eingeführt. Der Materialniveausensor (10) setzt eine Materialniveaumessung des Materials (30) fort, um einen ersten Merkmalswert zu erhalten. Der Materialniveausensor (10) wird vertikal mit einem vertikalen Abstand (Hair) bewegt. Der Materialniveausensor (10) setzt die Materialniveaumessung fort, um einen zweiten Merkmalswert zu erhalten, und subtrahiert den ersten Merkmalswert vom zweiten Merkmalswert, um eine Merkmalswertvariation zu erhalten, und berechnet die Merkmalswertvariation, um die Permittivität (ε) des Materials (30) zu erhalten. |
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AbstractList | Ein Verfahren zum Messen der Permittivität (ε) eines Materials (30) umfasst die folgenden Schritte. Ein Messstab (14) eines Materialniveausensors (10) wird in einen Behälter (20) eingeführt. Der Materialniveausensor (10) setzt eine Materialniveaumessung des Materials (30) fort, um einen ersten Merkmalswert zu erhalten. Der Materialniveausensor (10) wird vertikal mit einem vertikalen Abstand (Hair) bewegt. Der Materialniveausensor (10) setzt die Materialniveaumessung fort, um einen zweiten Merkmalswert zu erhalten, und subtrahiert den ersten Merkmalswert vom zweiten Merkmalswert, um eine Merkmalswertvariation zu erhalten, und berechnet die Merkmalswertvariation, um die Permittivität (ε) des Materials (30) zu erhalten. |
Author | Chang, Liang-Chi Lin, I-Chu Hou, Yi-Liang Chung, Shyh-Jong Cheng, Chao-Kai |
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