Steuersystem für ein Mikroskop und Verfahren zur Steuerung eines Mikroskops
Die Erfindung bezieht sich auf eine Steuersystem für ein Mikroskop (2), das einen Probentisch (3) zum Tragen eines Objektes (4), eine Abbildungsoptik (5) zum Abbilden des vom Probentisch (3) getragenen Objektes (4) und eine digitale Aufnahmeeinheit (7) zum Aufnehmen des abgebildeten Objektes (4) auf...
Saved in:
Main Authors | , , , , |
---|---|
Format | Patent |
Language | German |
Published |
23.06.2016
|
Subjects | |
Online Access | Get full text |
Cover
Loading…
Abstract | Die Erfindung bezieht sich auf eine Steuersystem für ein Mikroskop (2), das einen Probentisch (3) zum Tragen eines Objektes (4), eine Abbildungsoptik (5) zum Abbilden des vom Probentisch (3) getragenen Objektes (4) und eine digitale Aufnahmeeinheit (7) zum Aufnehmen des abgebildeten Objektes (4) aufweist, wobei das Steuersystem (1) so ausgebildet ist, dass sie einen ersten Betriebsmodus, in dem ein Benutzer mit ersten Benutzungsrechten nicht aber ein Benutzer mit zweiten Benutzungsrechten zumindest einen Arbeitsablauf (Z1, Z2, Z3) zum Aufnehmen des Objektes (4) und zum Auswerten der Aufnahmen derart zusammenstellen und festlegen kann, dass vorgegeben wird, welche Änderungen im Arbeitsablauf (Z1-Z3) und/oder von den Arbeitsablauf (Z1-Z3) beeinflussenden Parametern möglich sind, und einen zweiten Betriebsmodus bereitstellt, in dem ein Benutzer mit den zweiten Benutzungsrechten einen der festgelegten Arbeitsabläufe (Z1-Z3) auswählen und ausführen kann, und wobei das Steuersystem (1) dem Benutzer mit den zweiten Benutzungsrechten bei Ausführung des ausgewählten Arbeitsablaufes (Z1-Z3) Änderungen im ausgewählten Arbeitsablauf (Z1-Z3) und/oder von den den ausgewählten Arbeitsablauf (Z1-Z3) beeinflussenden Parametern nur im vorgegebenen Rahmen ermöglicht und andere Änderungen blockiert. |
---|---|
AbstractList | Die Erfindung bezieht sich auf eine Steuersystem für ein Mikroskop (2), das einen Probentisch (3) zum Tragen eines Objektes (4), eine Abbildungsoptik (5) zum Abbilden des vom Probentisch (3) getragenen Objektes (4) und eine digitale Aufnahmeeinheit (7) zum Aufnehmen des abgebildeten Objektes (4) aufweist, wobei das Steuersystem (1) so ausgebildet ist, dass sie einen ersten Betriebsmodus, in dem ein Benutzer mit ersten Benutzungsrechten nicht aber ein Benutzer mit zweiten Benutzungsrechten zumindest einen Arbeitsablauf (Z1, Z2, Z3) zum Aufnehmen des Objektes (4) und zum Auswerten der Aufnahmen derart zusammenstellen und festlegen kann, dass vorgegeben wird, welche Änderungen im Arbeitsablauf (Z1-Z3) und/oder von den Arbeitsablauf (Z1-Z3) beeinflussenden Parametern möglich sind, und einen zweiten Betriebsmodus bereitstellt, in dem ein Benutzer mit den zweiten Benutzungsrechten einen der festgelegten Arbeitsabläufe (Z1-Z3) auswählen und ausführen kann, und wobei das Steuersystem (1) dem Benutzer mit den zweiten Benutzungsrechten bei Ausführung des ausgewählten Arbeitsablaufes (Z1-Z3) Änderungen im ausgewählten Arbeitsablauf (Z1-Z3) und/oder von den den ausgewählten Arbeitsablauf (Z1-Z3) beeinflussenden Parametern nur im vorgegebenen Rahmen ermöglicht und andere Änderungen blockiert. |
Author | Krug, Christof Viereck, Friedrich Wilhelm Kuttge, Martin Bayerlein, Wolfgang Landolt, Roger |
Author_xml | – fullname: Krug, Christof – fullname: Viereck, Friedrich Wilhelm – fullname: Kuttge, Martin – fullname: Bayerlein, Wolfgang – fullname: Landolt, Roger |
BookMark | eNrjYmDJy89L5WTwCS5JLU0tKq4sLknNVUg7vKdIITUzT8E3M7sovzg7v0ChNC9FISy1KC0xoyg1T6GqtEgBoqM0Lx2kMrUYobaYh4E1LTGnOJUXSnMzqLq5hjh76KYW5MenFhckJqfmpZbEu7gaGhgZGJoYGlpYWBo6GhoTqw4AMeg6Uw |
ContentType | Patent |
DBID | EVB |
DatabaseName | esp@cenet |
DatabaseTitleList | |
Database_xml | – sequence: 1 dbid: EVB name: esp@cenet url: http://worldwide.espacenet.com/singleLineSearch?locale=en_EP sourceTypes: Open Access Repository |
DeliveryMethod | fulltext_linktorsrc |
Discipline | Medicine Chemistry Sciences Physics |
ExternalDocumentID | DE102014118891A1 |
GroupedDBID | EVB |
ID | FETCH-epo_espacenet_DE102014118891A13 |
IEDL.DBID | EVB |
IngestDate | Fri Jul 19 11:30:54 EDT 2024 |
IsOpenAccess | true |
IsPeerReviewed | false |
IsScholarly | false |
Language | German |
LinkModel | DirectLink |
MergedId | FETCHMERGED-epo_espacenet_DE102014118891A13 |
Notes | Application Number: DE201410118891 |
OpenAccessLink | https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160623&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102014118891A1 |
ParticipantIDs | epo_espacenet_DE102014118891A1 |
PublicationCentury | 2000 |
PublicationDate | 20160623 |
PublicationDateYYYYMMDD | 2016-06-23 |
PublicationDate_xml | – month: 06 year: 2016 text: 20160623 day: 23 |
PublicationDecade | 2010 |
PublicationYear | 2016 |
RelatedCompanies | Carl Zeiss Microscopy GmbH |
RelatedCompanies_xml | – name: Carl Zeiss Microscopy GmbH |
Score | 3.001314 |
Snippet | Die Erfindung bezieht sich auf eine Steuersystem für ein Mikroskop (2), das einen Probentisch (3) zum Tragen eines Objektes (4), eine Abbildungsoptik (5) zum... |
SourceID | epo |
SourceType | Open Access Repository |
SubjectTerms | CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION ORPROCESSING OF GOODS CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL CONTROLLING FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHYSICS REGULATING TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINSTCLIMATE CHANGE |
Title | Steuersystem für ein Mikroskop und Verfahren zur Steuerung eines Mikroskops |
URI | https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160623&DB=EPODOC&locale=&CC=DE&NR=102014118891A1 |
hasFullText | 1 |
inHoldings | 1 |
isFullTextHit | |
isPrint | |
link | http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwhV3LSsNAFL2U-txpVXyWWWh2wWaSJu2iiM2DIvaB1tJdyWMGQiENeSD4be78Me-MqdWNboebIXPh5J6ZnDkX4NqnpiVMW1RfjzqqoQWG6ltcV0MtskIqDK1k57nhyBy8GA_z9rwGyfoujPQJfZXmiIioEPFeyO91ujnEcqS2Mr8NYhxa3XnTnqNUu2MN6TjVFaffcydjZ2wrtt1zXGX0hFyXCkmj1ul0tXvcLW0hlbYEItxZX9xMSX-WFe8Atic4Y1IcQi1iDdiz193XGrA7rH56N2BHqjTDHAcrJOZH8PhcsBKpmzRiJvzjPSMsTsgwXmLZW65SUiYRmbGM-0JPR97KjHw9geAWkSzfxObHcOO5U3ug4gsuvjOycNzf69FPoJ6sEnYKhHUjw4x8LfTb1DA5ErjA5AYPWoFoStSiZ9D8e67z_wIuYF9kWuilqH4J9SIr2RVW5iJoynR-ArqkkSI |
link.rule.ids | 230,309,783,888,25576,76876 |
linkProvider | European Patent Office |
linkToHtml | http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwhV3LTsJAFL0h-MCdogZfOAvtrpFOSwsLYqQtQW0LUSTsSB_ThJAU0kdM_DZ3_ph3RhDd6HZyO-nc5PSemZ45F-DKp7rBTVtkX41asqYEmuwbsSqHSmSElBtaic5zrqf3X7SHSXNSgmR9F0b4hL4Kc0REVIh4z8X3erk5xLKEtjK7CWY4tLjtjTqWtNodK0jHqSpZ3Y49HFgDUzLNjmVL3hNyXcoljUqr1VbucLe0hTTb4Iiwx11-M2X5s6z09mF7iDMm-QGUIlaFirnuvlaFXXf107sKO0KlGWY4uEJidgjOc84KpG7CiJnEH-8pYbOEuLM5lr35YkmKJCJjlsY-19ORtyIlX08guHkkyzax2RFc9-yR2ZfxBaffGZla9u_1qMdQThYJqwFh7UjTI18J_SbV9BgJXKDHWhw0At6UqEFPoP73XKf_BVxCpT9ynalz7z2ewR7POtdOUfUcynlasAus0nlQF6n9BLXKlBU |
openUrl | ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info%3Aofi%2Fenc%3AUTF-8&rfr_id=info%3Asid%2Fsummon.serialssolutions.com&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Apatent&rft.title=Steuersystem+f%C3%BCr+ein+Mikroskop+und+Verfahren+zur+Steuerung+eines+Mikroskops&rft.inventor=Krug%2C+Christof&rft.inventor=Viereck%2C+Friedrich+Wilhelm&rft.inventor=Kuttge%2C+Martin&rft.inventor=Bayerlein%2C+Wolfgang&rft.inventor=Landolt%2C+Roger&rft.date=2016-06-23&rft.externalDBID=A1&rft.externalDocID=DE102014118891A1 |