Semiconductor storage device with testing and redundant function

• Main Authors: OSAWA NORIYA, MAENO HIDESHI
• Format: Patent
• Language: Chinese; English
• Published: 28.07.2004
• Edition: 7
• Subjects: INFORMATION STORAGE; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; STATIC STORES; TESTING

得到具有能早期地识别内部的被测试的存储电路的故障的有无的测试电路的半导体集成电路装置。在将移位模式信号SM定为"1"、测试模式信号TM定为"1"的第1测试模式时，如果将比较控制信号CMP定为" 1"，则成为测试有效状态。而且，各自在指示故障时成为"0"的输入数据D与预期值数据EXP的比较结果(比较器21的输出)、串行输入SI和锁存数据(D-FF27的数据输出Q)的"与"运算结果经由"与非"门28、29、"与"门30和选择器26，供给D-FF27的D输入端。...