基于垂测频高图加快数值型射线追踪速度的方法及系统
本发明公开一种基于垂测频高图加快数值型射线追踪速度的方法,首先构建发射站与接收站之间的电离层电子密度网格,并计算两站之间的大圆距离;随后,利用中间点的电子密度剖面生成垂测电离图,并将其转换为斜测电离图;基于发射站的工作频率,在斜测图根据工作频率确定该频率对应的群路径,再利用群路径和大圆距离计算初始仰角;最后,通过数值型射线追踪扫描扫描该工作频率的仰角范围即初始仰角附近的#imgabs0#范围,获得射线追踪结果。本发明方法在不降低计算精度的前提下,显著提升了数值型射线追踪的计算效率。...
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Format | Patent |
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Language | Chinese |
Published |
05.08.2025
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Summary: | 本发明公开一种基于垂测频高图加快数值型射线追踪速度的方法,首先构建发射站与接收站之间的电离层电子密度网格,并计算两站之间的大圆距离;随后,利用中间点的电子密度剖面生成垂测电离图,并将其转换为斜测电离图;基于发射站的工作频率,在斜测图根据工作频率确定该频率对应的群路径,再利用群路径和大圆距离计算初始仰角;最后,通过数值型射线追踪扫描扫描该工作频率的仰角范围即初始仰角附近的#imgabs0#范围,获得射线追踪结果。本发明方法在不降低计算精度的前提下,显著提升了数值型射线追踪的计算效率。 |
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Bibliography: | Application Number: CN202510858015 |