SYSTEMS AND METHODS FOR REDUCING LAB-TO-LAB AND/OR INSTRUMENT-TO-INSTRUMENT VARIABILITY OF MULTI-ATTRIBUTE METHOD (MAM) BY RUN-TIME SIGNAL INTENSITY CALIBRATIONS

• Main Author: ZHANG, ZHONGQI
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 12.12.2019
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS; ELECTRICITY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Systems and methods are described for reducing lab-to-lab and/or instrument-to- instrument variability of Multi- Attribute Methods (MAM) analyses via run-time signal intensity calibration. In various aspects, multiple MAM-based instruments each have detectors and different instrument conditions defined by different instrument models or sets of settings. Each MAM-based instrument receives respective samples and a reference standard as a calibrant. Each MAM-based instrument detects, via its detector, sample isoforms of its respective sample and reference standard isoforms of the reference standard. The MAM-based instruments are associated with processor(s) that determine, via respective MAM iterations, correction factors and sample abundance values corresponding to the sample isoforms. The correction factors are based on the reference standard, and the sample abundance values are based on the correction factors. A variance value of the sample abundance values may be reduced based on correction factors of each of the MAM-based instruments. L'invention concerne des systèmes et des procédés destinés à réduire la variabilité entre laboratoires et/ou entre instruments de procédés multi-attributs (MAM) par l'intermédiaire d'un étalonnage d'intensité de signal en temps d'exécution. Selon divers aspects, de multiples instruments basés sur un MAM ont chacun des détecteurs et différentes conditions d'instrument définies par différents modèles d'instruments ou ensembles de réglages. Chaque instrument basé sur un MAM reçoit des échantillons respectifs et une norme de référence en tant que calibrateur. Chaque instrument basé sur un MAM détecte, par l'intermédiaire de son détecteur, des isoformes d'échantillon de son échantillon respectif et des isoformes de norme de référence de la norme de référence. Les instruments basés sur un MAM sont associés à un ou plusieurs processeurs qui déterminent, par l'intermédiaire d'itérations de MAM respectives, des facteurs de correction et de valeurs d'abondance d'échantillon correspondant aux isoformes d'échantillon. Les facteurs de correction sont basés sur la norme de référence, et les valeurs d'abondance d'échantillon sont basées sur les facteurs de correction. Une valeur de variance des valeurs d'abondance d'échantillon peut être réduite sur la base de facteurs de correction de chacun des instruments basés sur un MAM.