dispositivo e método para a caracterização de feixes de laser de baixa e alta potência baseado no espalhamento de luz

dispositivo e método para a caracterização de feixes de laser de baixa e alta potência baseado em espalhamento de luz a presente invenção refere-se a uru dispositivo e método para a caracterização de feixes de laser de alta e baixa potência baseado em espalhamento de luz, que permite medir a qualida...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors Rudimar Riva, Kelly Cristina Jorge, Nicolau André Silveira Rodrigues
Format Patent
LanguagePortuguese
Published 19.06.2018
Subjects
Online AccessGet full text

Cover

Loading…
More Information
Summary:dispositivo e método para a caracterização de feixes de laser de baixa e alta potência baseado em espalhamento de luz a presente invenção refere-se a uru dispositivo e método para a caracterização de feixes de laser de alta e baixa potência baseado em espalhamento de luz, que permite medir a qualidade do feixe de laser com urna única imagem da luz espalhada da propagação do feixe de laser. mais especificamente, a presente invenção revela uma nova maneira de medir os parâmetros espaciais de feixes de laser em tempo real, e que também pode ser utilizado para caracterizar um único pulso de um feixe de laser. com os dados fornecidos, em tempo real, por este dispositivo e com o método de caracterização do feixe de laser tornam-se mais eficientes as aplicaç6es a laser, pois permite conhecer a qualidade do feixe no instante da utilização do laser.
Bibliography:Application Number: BR2006PI05596