método e sistema de inspeção empregando a análise multifrequencial da fase

• Main Authors: William Stewart McKnight, Changting Wang, Ui Won Suh, Serkan Ertekin
• Format: Patent
• Language: Portuguese
• Published: 14.11.2017
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

"método e sistema de inspeção empregando a análise multifrequencial da fase". é descrito um método para inspecionar uma peça. o método compreende aplicar um certo número de sinas multifrequenciais de excitação a uma sonda (12) para gerar um certo número de sinais multifrequenciais de resposta para a peça (18) que está sendo inspecionada. o método ainda compreende realizar uma análise multifrequencial de fase nos sinais multifrequenciais de resposta para inspecionar abaixo da superfície da peça (18). é descrito um sistema de inspeção (10), o qual compreende uma sonda (12) por corrente parasitária (ec) configurada para induzir correntes parasitárias em uma peça (18). o sistema (10) ainda inclui um instrumento por corrente parasitária (14) acoplado à sonda ec por corrente parasitária (12), e configurado para aplicar sinas multifrequenciais de excitação na sonda es (12) de modo a gerar uma pluralidade de sinais multifrequenciais de resposta. o sistema (10) ainda inclui um processador (16) configurado para analisar os sinais multifrequenciais de resposta do instrumento ec (14) através da realização de uma análise multifrequencial da fase, para inspecionar abaixo da superfície da peça (18). An inspection system (10) is provided and includes an eddy current (EC) probe (12) configured to induce eddy currents in a part (18). The system (10) further includes an eddy current instrument (14) coupled to the EC probe (12) and configured to apply multifrequency excitation signals to the EC probe (12) to generate multifrequency response signals. The system (10) further includes a processor (16) configured to analyze the multifrequency response signals from the EC instrument (14) by performing a multifrequency phase analysis, to inspect a subsurface of the part (18).