烧结温度对陶瓷体氧化铝固体电解质性能的影响

• Published in: 硅酸盐学报 Vol. 42; no. 7; pp. 886 - 890
• Main Author: 朱承飞 薛金花
• Format: Journal Article
• Language: Chinese
• Published: 2014
• Subjects: 固体电解质; 氧化铝; 烧结温度; 离子电导率

在Al2O3电解质体系中,利用X射线衍射分析仪、扫描电子显微镜和交流阻抗谱仪考察了烧结温度对陶瓷体Al2O3固体电解质（BASE）的β″/β相的形成、体密度和离子电导率的影响。研究表明：固相法合成BASE时,陶瓷体的最佳的陶瓷烧结温度为1 600℃。离子电导率、β″含量、体积密度随烧结温度的升高先上升后下降。离子电导率不仅与相结构有关,还与材料的致密性有关。导电过程在温度升高过程中,会由晶界控制转变为晶粒控制。随着烧结温度的升高,晶界控制的温度范围逐渐减小。...