D-D中子孔隙度测井泥质影响及校正研究

P631.81; 可控源替代同位素中子源进行中子孔隙度测井是核测井发展的必然趋势.为了提高可控D-D源中子孔隙度测井的可行性及测量精度,本文对D-D源中子孔隙度测井中泥质影响进行分析.首先利用蒙特卡罗模拟,对比分析三种源(241Am-Be源、D-T源、D-D源)中子孔隙度测井过程中泥页岩响应;然后通过改变D-D源中子孔隙度测井中近、远源距位置,优选出D-D源的源距组合,重点分析通过改变源距的方式弱化泥页岩的影响.研究表明:D-D源和241Am-Be源的泥页岩响应规律比较接近,当D-D源的源距设计相比于241Am-Be源更近即采用25～45 cm的源距组合时,D-D源中子孔隙度测井中泥页岩影响与...

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Published in核技术 Vol. 45; no. 5; pp. 41 - 48
Main Authors 张丽, 韩笑, 于华伟, 贾文宝, 耿学森
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 南京航空航天大学材料科学与技术学院 南京 211106%山东科技大学资源学院 泰安 271019%中国石油大学(华东)地球科学与技术学院 青岛 266580%南京航空航天大学材料科学与技术学院 南京 211106 15.05.2022
山东科技大学资源学院 泰安 271019
Subjects
泥质影响
中子孔隙度测井
D-D源
241Am-Be源
源距组合
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ISSN0253-3219
DOI10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.050501

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Summary:P631.81; 可控源替代同位素中子源进行中子孔隙度测井是核测井发展的必然趋势.为了提高可控D-D源中子孔隙度测井的可行性及测量精度,本文对D-D源中子孔隙度测井中泥质影响进行分析.首先利用蒙特卡罗模拟,对比分析三种源(241Am-Be源、D-T源、D-D源)中子孔隙度测井过程中泥页岩响应;然后通过改变D-D源中子孔隙度测井中近、远源距位置,优选出D-D源的源距组合,重点分析通过改变源距的方式弱化泥页岩的影响.研究表明:D-D源和241Am-Be源的泥页岩响应规律比较接近,当D-D源的源距设计相比于241Am-Be源更近即采用25～45 cm的源距组合时,D-D源中子孔隙度测井中泥页岩影响与241Am-Be源接近程度最高.虽然源距组合的改变不能使D-D源与241Am-Be源的泥页岩响应完全一致或者彻底消除泥质影响,但这种较高程度趋近为D-D源中子孔隙度测井中泥页岩校正提供了思路,也为今后测井仪器中放射源的可兼容替代有一定的应用意义.
ISSN:0253-3219
DOI:10.11889/j.0253-3219.2022.hjs.45.050501