基于KDE的构架应力谱外推与疲劳寿命评估 - 王秋实; 周劲松; 肖忠民; 宫岛; 张展飞; 王腾飞; 孙煜 (振动、测试与诊断, 2022)
Keywords: 核密度外推; 疲劳寿命; 应力谱; 转向架构架; 核密度估计