碳化硅基直流固态断路器短路保护方法

TM386; 碳化硅器件比硅器件具有更低的导通电阻,用其制作直流固态断路器可以大大降低其通态损耗,减轻散热压力.然而相比于硅器件,由于碳化硅器件管芯面积小,电流密度大,其短路能力相对较弱,短路保护要求更高.为确保碳化硅器件安全可靠工作,提高碳化硅基直流固态断路器的可靠性,对比分析了硅基与碳化硅基MOSFET的短路能力,揭示了其器件恶化机理,研究了栅源极电压箝位方法,并结合去饱和检测,提出了一种基于源极寄生电感的"软关断"短路保护方法,制作了直流固态断路器样机进行实验验证.实验结果表明,所提方法可以降低功率器件的关断电压应力、抑制短路电流,适合碳化硅基直流固态断路器短路保护....

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Published in南京航空航天大学学报 Vol. 52; no. 2; pp. 207 - 214
Main Authors 秦海鸿, 莫玉斌, 张英, 杨跃茹, 赵朝会
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 南京航空航天大学自动化学院,南京,211106%上海电机学院电气学院,上海,201306 01.04.2020
Subjects
直流固态断路器
短路能力
短路保护
碳化硅
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ISSN1005-2615
DOI10.16356/j.1005-2615.2020.02.005

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Summary:TM386; 碳化硅器件比硅器件具有更低的导通电阻,用其制作直流固态断路器可以大大降低其通态损耗,减轻散热压力.然而相比于硅器件,由于碳化硅器件管芯面积小,电流密度大,其短路能力相对较弱,短路保护要求更高.为确保碳化硅器件安全可靠工作,提高碳化硅基直流固态断路器的可靠性,对比分析了硅基与碳化硅基MOSFET的短路能力,揭示了其器件恶化机理,研究了栅源极电压箝位方法,并结合去饱和检测,提出了一种基于源极寄生电感的"软关断"短路保护方法,制作了直流固态断路器样机进行实验验证.实验结果表明,所提方法可以降低功率器件的关断电压应力、抑制短路电流,适合碳化硅基直流固态断路器短路保护.
ISSN:1005-2615
DOI:10.16356/j.1005-2615.2020.02.005