HgCdTe反型层中自旋轨道耦合、塞曼效应及界面粗糙涨落效应研究

O513; 通过实验测量,研究了HgCdTe反型层中自旋轨道耦合、塞曼效应及界面粗糙涨落效应.采用理论模型对不同温度及不同平行磁场下的反弱局域效应进行分析,结果表明,在平行磁场中,界面粗糙涨落效应与塞曼效应均会对HgCdTe反型层的反弱局域效应产生抑制作用.其中,界面粗糙涨落效应表现为产生一个二维电子气法向的弱局域效应,对样品施加平行磁场会首先抑制界面粗糙涨落效应导致的法向弱局域效应,然后才以塞曼效应继续抑制反弱局域效应.通过对参数τ/τ?与|m*rg*3|的分析表明,塞曼效应对反弱局域效应的抑制与温度无关....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in红外与毫米波学报 Vol. 39; no. 6; pp. 684 - 689
Main Authors 涂华垚, 吕蒙, 张松然, 俞国林, 孙艳, 康亭亭, 陈鑫, 戴宁
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 中国科学院大学,北京 100084%中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083%中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083 01.12.2020
上海理工大学材料科学与工程学院,上海 200093
中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083
Subjects
碲镉汞
塞曼效应
自旋轨道耦合
界面粗糙涨落效应
Online AccessGet full text
ISSN1001-9014
DOI10.11972/j.issn.1001-9014.2020.06.004

Cover

More Information
Summary:O513; 通过实验测量,研究了HgCdTe反型层中自旋轨道耦合、塞曼效应及界面粗糙涨落效应.采用理论模型对不同温度及不同平行磁场下的反弱局域效应进行分析,结果表明,在平行磁场中,界面粗糙涨落效应与塞曼效应均会对HgCdTe反型层的反弱局域效应产生抑制作用.其中,界面粗糙涨落效应表现为产生一个二维电子气法向的弱局域效应,对样品施加平行磁场会首先抑制界面粗糙涨落效应导致的法向弱局域效应,然后才以塞曼效应继续抑制反弱局域效应.通过对参数τ/τ?与|m*rg*3|的分析表明,塞曼效应对反弱局域效应的抑制与温度无关.
ISSN:1001-9014
DOI:10.11972/j.issn.1001-9014.2020.06.004