基于神经网络的IGBT模块剩余使用寿命预测模型

TM93; 对IGBT模块使用寿命进行预测是评估其健康状态和可靠性的有效手段.基于IGBT老化实验测量,构建了包括饱和压降和结温的二维IGBT状态检测指标.对于归一化后的数据,提出了分段处理方法,去除了 IGBT键合线断裂引起的较大指标波动.以饱和压降和结温数据为基础,提出了基于BP神经网络算法的IGBT剩余寿命预测模型.针对同样本不同通道、不同实验条件样本等情况,验证了本模型在剩余寿命预测中的准确性....

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Bibliographic Details
Published in电测与仪表 Vol. 60; no. 1; pp. 132 - 138
Main Authors 郭子庆, 王学华
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 华中科技大学电气与电子工程学院,武汉430074 15.01.2023
Subjects
分段拟合
神经网络
IGBT模块寿命预测
老化机理
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ISSN1001-1390
DOI10.19753/j.issn1001-1390.2023.01.019

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Summary:TM93; 对IGBT模块使用寿命进行预测是评估其健康状态和可靠性的有效手段.基于IGBT老化实验测量,构建了包括饱和压降和结温的二维IGBT状态检测指标.对于归一化后的数据,提出了分段处理方法,去除了 IGBT键合线断裂引起的较大指标波动.以饱和压降和结温数据为基础,提出了基于BP神经网络算法的IGBT剩余寿命预测模型.针对同样本不同通道、不同实验条件样本等情况,验证了本模型在剩余寿命预测中的准确性.
ISSN:1001-1390
DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2023.01.019