基于离子阱质谱的离子碰撞截面积测量方法研究进展

O657.63; 近年来,随着分子结构分析需求的不断增加,开发离子阱质量分析器测量离子碰撞截面积的方法成为研究热点.该方法能降低仪器复杂度,并且能同时获得高分辨的质量和分子立体结构信息,逐渐成为与离子淌度谱(I M S)互补的测量碰撞截面积的有效手段.目前,已经实现了傅里叶变换离子回旋共振阱(FT-ICR)、轨道离子阱(Orbitrap)、四极离子阱(QIT)、静电线性离子阱(ELIT)测量离子碰撞截面积(CCS).但该项技术仍存在诸多挑战,如分辨率不高、受气压因素影响、无法区分同分异构体等.本文阐述了离子与缓冲气体分子碰撞理论、不同离子阱质谱仪测量碰撞截面积的方法,并总结测量方法的优缺点,展...

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Published in质谱学报 Vol. 43; no. 5; pp. 611 - 622
Main Authors 向玉, 姜婷, 徐伟
Format Journal Article
LanguageChinese
Published 北京理工大学生命学院,北京 100084 01.09.2022
Subjects
离子阱
离子淌度谱(IMS)
碰撞截面积(CCS)
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ISSN1004-2997
DOI10.7538/zpxb.2022.0038

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Abstract O657.63; 近年来,随着分子结构分析需求的不断增加,开发离子阱质量分析器测量离子碰撞截面积的方法成为研究热点.该方法能降低仪器复杂度,并且能同时获得高分辨的质量和分子立体结构信息,逐渐成为与离子淌度谱(I M S)互补的测量碰撞截面积的有效手段.目前,已经实现了傅里叶变换离子回旋共振阱(FT-ICR)、轨道离子阱(Orbitrap)、四极离子阱(QIT)、静电线性离子阱(ELIT)测量离子碰撞截面积(CCS).但该项技术仍存在诸多挑战,如分辨率不高、受气压因素影响、无法区分同分异构体等.本文阐述了离子与缓冲气体分子碰撞理论、不同离子阱质谱仪测量碰撞截面积的方法,并总结测量方法的优缺点,展望未来的研究方向.
AbstractList O657.63; 近年来,随着分子结构分析需求的不断增加,开发离子阱质量分析器测量离子碰撞截面积的方法成为研究热点.该方法能降低仪器复杂度,并且能同时获得高分辨的质量和分子立体结构信息,逐渐成为与离子淌度谱(I M S)互补的测量碰撞截面积的有效手段.目前,已经实现了傅里叶变换离子回旋共振阱(FT-ICR)、轨道离子阱(Orbitrap)、四极离子阱(QIT)、静电线性离子阱(ELIT)测量离子碰撞截面积(CCS).但该项技术仍存在诸多挑战,如分辨率不高、受气压因素影响、无法区分同分异构体等.本文阐述了离子与缓冲气体分子碰撞理论、不同离子阱质谱仪测量碰撞截面积的方法,并总结测量方法的优缺点,展望未来的研究方向.
Author 姜婷
徐伟
向玉
AuthorAffiliation 北京理工大学生命学院,北京 100084
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XU Wei
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