顾及粗差影响的全球电离层克里金插值及精度分析

针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题，基于克里金插值的变异函数，构造电离层插值的粗差剔除统计量，实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证，得出以下结论：①粗差剔除统计量能有效剔除粗差，保证插值精度与样本精度相当；②基于2014年太阳活动高年样本，克里金插值的精度RMS为1.0~5.0 TECU（total electron content unit）。...

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Published inCe hui xue bao Vol. 48; no. 7; pp. 840 - 848
Main Authors 朱永兴, 谭述森, 杜兰, 贾小林
Format Journal Article
LanguageChinese
English
Published Beijing Surveying and Mapping Press 01.07.2019
西安测绘研究所,陕西 西安 710054
信息工程大学,河南 郑州 450052
地理信息工程国家重点实验室,陕西 西安 710054
西安测绘研究所,陕西 西安 710054%北京卫星导航中心,北京,100094%信息工程大学,河南 郑州,450052%地理信息工程国家重点实验室,陕西 西安 710054
Subjects
Accuracy
Etiquette
Ionosphere
Kriging interpolation
Pharmacists
Statistical analysis
Total Electron Content
精度分析
总电子含量
粗差剔除
全球插值
克里金插值
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ISSN1001-1595
1001-1595
DOI10.11947/j.AGCS.2019.20180049

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Summary:针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题，基于克里金插值的变异函数，构造电离层插值的粗差剔除统计量，实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证，得出以下结论：①粗差剔除统计量能有效剔除粗差，保证插值精度与样本精度相当；②基于2014年太阳活动高年样本，克里金插值的精度RMS为1.0~5.0 TECU（total electron content unit）。
Bibliography:ObjectType-Article-1
SourceType-Scholarly Journals-1
ObjectType-Feature-2
content type line 14
ISSN:1001-1595
1001-1595
DOI:10.11947/j.AGCS.2019.20180049