STEMと電子線トモグラフィーの出会い - 青山, 一弘; 宮澤, 淳夫 (顕微鏡, 2009)
Keywords: CEMOVIS：Cryo-Electron Microscopy Of Vitreous Sections; ET：電子線トモグラフィー; STEM：走査透過型電子顕微鏡; TOVIS：Tomography Of Vitreous Sections; クライオ電子顕微鏡法