STEMと電子線トモグラフィーの出会い

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Published in顕微鏡 Vol. 44; no. 4; p. 240
Main Authors 青山, 一弘, 宮澤, 淳夫
Format Journal Article
LanguageJapanese
Published 公益社団法人 日本顕微鏡学会 30.12.2009
Subjects
CEMOVIS：Cryo-Electron Microscopy Of Vitreous Sections
ET：電子線トモグラフィー
STEM：走査透過型電子顕微鏡
TOVIS：Tomography Of Vitreous Sections
クライオ電子顕微鏡法
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ISSN1349-0958
2434-2386
DOI10.11410/kenbikyo.44.4_240

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ISSN:1349-0958
2434-2386
DOI:10.11410/kenbikyo.44.4_240