APA (7th ed.) Citation

山下, 将., 斗内, 政., 二川, 清., 大谷, 知., & 川瀬, 晃. (2007). レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡のLSI故障解析への応用. レーザー研究, 35(Supplement), 139-142. https://doi.org/10.2184/lsj.35.139

Chicago Style (17th ed.) Citation

山下, 将嗣, 政吉 斗内, 清 二川, 知行 大谷, and 晃道 川瀬. "レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡のLSI故障解析への応用." レーザー研究 35, no. Supplement (2007): 139-142. https://doi.org/10.2184/lsj.35.139.

MLA (9th ed.) Citation

山下, 将嗣, et al. "レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡のLSI故障解析への応用." レーザー研究, vol. 35, no. Supplement, 2007, pp. 139-142, https://doi.org/10.2184/lsj.35.139.