加藤, 丈., 佐々木, 宏., & 平山, 司. (2007). 集束イオンビームによる試料作製とビームダメージ層除去. 顕微鏡, 42(2), 131-135. https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.42.131
Chicago Style (17th ed.) Citation加藤, 丈晴, 宏和 佐々木, and 司 平山. "集束イオンビームによる試料作製とビームダメージ層除去." 顕微鏡 42, no. 2 (2007): 131-135. https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.42.131.
MLA (9th ed.) Citation加藤, 丈晴, et al. "集束イオンビームによる試料作製とビームダメージ層除去." 顕微鏡, vol. 42, no. 2, 2007, pp. 131-135, https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.42.131.
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