RFSoC의 양성자 시험 로직 개발 및 SEU 측정 평가
본 논문에서는 Xilinx 사의 RFSoC FPGA에 대해 양성자 빔 조사 시험 로직 구현과 시험 결과를 제시한다. RFSoC는 FPGA 기능 외에도 CPU, ADC, DAC가 집적화되어 있는 칩으로 소형경량화를 목적으로 둔 방위산업 및 우주 산업에서 주목받고 있는 칩이다. 이러한 칩을 우주 환경에서 사용하려면 방사선 영향에 대한 분석이 필요하며 방사선 경감 대책이 필요하게 되었다. 양성자 조사 시험을 통해 RFSoC의 방사선 영향을 측정할 수 있는 로직을 설계하였다. Memory에 저장된 값을 정상 값과 비교하는 로직을 구현하고...
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Published in | The journal of the institute of internet, broadcasting and communication : JIIBC Vol. 24; no. 1; pp. 97 - 101 |
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Main Authors | , , , |
Format | Journal Article |
Language | Korean |
Published |
한국인터넷방송통신학회
29.02.2024
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Subjects | |
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ISSN | 2289-0238 2289-0246 |
DOI | 10.7236/JIIBC.2024.24.1.97 |
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Table of Contents:
- 요약 Abstract Ⅰ. 서론 Ⅱ. 시험 로직 개발 Ⅲ. 실험 및 결과 Ⅳ. 결론 References