by Louis, E., Voorma, H.-J., Koster, N.B., Shmaenok, L., Bijkerk, F., Schlatmann, R., Verhoeven, J., Platonov, Yu.Ya, van Dorssen, G.E., Padmore, H.A.
Published in Microelectronic engineering (1994)

by Louis, E., Voorma, H.-J., Koster, N.B., Bijkerk, F., Platonov, Yu.Ya, Zuev, S.Yu, Andreev, S.S., Shamov, E.A., Salashchenko, N.N.
Published in Microelectronic engineering (01.02.1995)

by Voorma, H.-J., van Dorssen, G.E., Louis, E., Koster, N.B., Smith, A.D., Roper, M.D., Bijkerk, F.
Published in Applied surface science (01.03.1996)

by Voorma, H.-J., Bijkerk, F.
Published in Microelectronic engineering (01.03.1992)

by Bijkerk, F., Shmaenok, L.A., Louis, E., Voorma, H.J., Koster, N.B., Bruineman, C., Bastiaensen, R.K.F.J., van der Drift, E.W.J.M., Romijn, J., de Groot, L.E.M., Rousseeuw, B.A.C., Zijlstra, T., Platonov, Yu.Ya, Salashchenko, N.N.
Published in Microelectronic engineering (01.01.1996)

by Louis, E., Bijkerk, F., Shmaenok, L., Voorma, H.-J., van der Wiel, M.J., Schlatmann, R., Verhoeven, J., van der Drift, E.W.J.M., Romijn, J., Rousseeuw, B.A.C., Voβ, F., Desor, R., Nikolaus, B.
Published in Microelectronic engineering (01.04.1993)