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Beam test performance studies of CMS Phase-2 Outer Tracker module prototypes

by D'Hondt, J., Allard, Y., Caviglia, F., Lee, K., Bethani, A., Lemaitre, V., Szilasi, N., Tuominen, E., Karadzhinova-Ferrer, A., Tuuva, T., Collard, C., Vaucelle, P., Bonnevaux, A., Greenberg, C., Mirabito, L., Schirra, F., Karpinski, W., Ziemons, T., Campbell, A., Guthoff, M., Rastorguev, D., Reichelt, O., Ventura Barroso, A., Lange, J., Schwandt, J., Butz, E., Wittig, F., Balázs, T., Siklér, F., Kumar, T., Behera, P.K., Sikdar, A.K., Vijay, A., Di Florio, A., Loddo, F., Mastrapasqua, V., Silvestris, L., Assiouras, P., Barbagli, G., Bardelli, G., Brianzi, M., Kello, T., Sguazzoni, G., Cerchi, S., Ferro, F., Dinardo, M.E., Guzzi, L., Bortignon, P., Manghisoni, M., Croci, T., Ionica, M., Placidi, P., Asenov, P., Basti, A., Battacharya, R., Dell'Orso, R., Tenchini, F., Migliore, E., Awais, A., Abbas, M., Golyzniak, D., Kloukinas, K., Mersi, S., Horisberger, R., Lange, C., Rohe, T., di Calafiori, D., Jin, W., Maier, R., Meng, F., Sanchez Cruz, S., Clement, E., Schuh, T., Bainbridge, R., Reid, I.D., Heintz, U., Hogan, J., Wagenknecht, P., Hemer, D., Deelen, N., Krutelyov, S., Mukherjee, S., Monroy, J., Reichert, J., Riley, D., Canepa, A., Dickinson, J., Merkel, P., Hawksworth, M., Hofman, D.J., Wadud, M.A., Roguljic, M., Swartz, M., Kravchenko, I., Iashvili, I., Hahn, K., Taliercio, A., Hill, C.S., Nussbaum, T., Spanier, S.
Published in Journal of instrumentation (01.10.2024)

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Journal Article

Measurement of the fractional radiation length of a pixel module for the CMS Phase-2 upgrade via the multiple scattering of positrons

by Darwish2,3, M.R., D'Hondt, J., Allard, Y., Caviglia, F., Lee, K., Bethani, A., Lemaitre, V., Szilasi, N., Gross, L., Caponetto, L., Contardo, D., Ebisch, C., Teroerde, M., Dziwok, C., Stahl, A., Agah, A., Mussgiller, A., Sreelatha Pramod, L., Haller, J., Kuo, C.C., Martens, S., Schaarschmidt, J., Fuchs, M., Topko, B., Veszprémi, V., Bahinipati, S., Jain, C., Kumar, A., de Palma, M., Mastrapasqua, V., My, S., Ceccarelli, R., Cerchi, S., Ferro, F., Guzzi, L., Ratti, L., Di Chiaro, A., Fanò, L., Beccherle, R., Benvenuti, D., Castaldi, R., Spagnolo, P., Bellan, R., Coli, S., Mecca, A., Migliore, E., Asghar, M.I., Moya, D., Grygiel, B., Kovacs, M., Piazza, Q., Scarfì, S., Troska, J., Vasey, F., Adelmann, A., Ebrahimi, A., Langenegger, U., Papa, A., Seidita, R., Cormier, K., Huwiler, M., Jofrehei, A., Macchiolo, A., Hou, W.-S., Lu, R.-S., Clement, E., Sanjrani, S., Shepherd-Themistocleous, C., Uchida, K., Bartek, R., Vargas Hernandez, A.M., Pervan, N., Cooperstein, S.B., Guyang, J., Vourliotis, E., Dickinson, J., Grünendahl, S., Horyn, L., Lee, C., Ristori, L., Kyriacou, S., Wilson, G., Ivanov, A., Kalogeropoulos, A., Taylor, R., Claes, D.R., Kravchenko, I., Rappoccio, S., Jeon, S., Monk, D., Basnet, A., Hill, C.S., Joyce, M., Jung, A., Liu, M., Gershtein, Y., Halkiadakis, E., Saha, P., Schnetzer, S., Eusebi, R.
Published in Journal of instrumentation (01.10.2024)

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