by Agnello, P., Ivers, T., Warm, C., Wise, R., Wachnik, R., Schepis, D., Sankaran, S., Norum, J., Luning, S., Li, Y., Khare, M., Grill, A., Edelstein, D., Chen, X., Brown, D., Augur, R., Wu, S., Yu, J., Wong, R.C., Werking, J., Wehella-Gamage, D., Vayshenker, A., Van Meer, H., Van Den Nieuwenhuizen, R., Tian, C., Tabakman, K., Sung, C.Y., Standaert, T., Simon, A., Sim, J., Sheraw, C., Restaino, D., Rausch, W., Pal, R., Prindle, C., Ouyang, X., Ouyang, C., Ontalus, V., Nummy, K., Nielsen, D., Nicholson, L., McKnight, A., Lustig, N., Liu, X., Lee, M.H., Lea, D., Larosa, G., Landers, W., Kim, B., Kelling, M., Jeng, S.-J., Holt, J., Hargrove, M., Grunow, S., Greco, S., Gates, S., Frye, A., Fisher, P., Domenicucci, A., Dimitrakopoulos, C., Costrini, G., Chou, A., Cheng, J., Butt, S., Black, L., Belyansky, M., Ahsan, I., Adam, T., Gabor, A., Wu, C.-H.J., Yang, D., Crouse, M., Robinson, C., Corliss, D., Fonseca, C., Johnson, J., Weybright, M., Waite, A., Nayfeh, H.M., Onishi, K., Narasimha, S.
Published in 2006 International Electron Devices Meeting (01.12.2006)