by Alderighi, M., Casini, F., D'Angelo, S., Mancini, M., Pastore, S., Sechi, G.R., Weigand, R.
Published in 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007) (01.09.2007)

by Alderighi, M., Casini, F., Citterio, M., D'Angelo, S., Mancini, M., Pastore, S., Sechi, G.R., Sorrenti, G.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.08.2009)

by Alderighi, M., Amorini, F., Anzalone, A., Arena, N., Auditore, L., Bassini, R., Boiano, C., Cardella, G., Cavallaro, S., Chatterjee, M.B., D'Andrea, M., De Filippo, E., Fichera, F., Geraci, E., Giustolisi, F., Guardone, N., Grimaldi, A., Guazzoni, P., La Guidara, E., Lanzano, G., Lanzalone, G., Maiolino, C., Nicotra, D., Pagano, A., Papa, M., Pirrone, S., Politi, G., Porto, F., Pullia, A., Rizzo, F., Russo, S., Russotto, P., Santonocito, D., Sacca, G., Sassi, M., Schroder, W.U., Sechi, G.R., Trifiro, A., Toke, J., Trimarchi, M., Urso, S., Zetta, L.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.10.2005)

by Alderighi, M., Candelori, A., Casini, F., D'Angelo, S., Mancini, M., Paccagnella, A., Pastore, S., Sechi, G.R.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.12.2005)

by Alderighi, M., Anzalone, A., Bassini, R., Boiano, C., Cardella, G., Cavallaro, S., De Filippo, E., Geraci, E., Giustolisi, F., Guazzoni, P., Laguidara, E., Lanzano, G., Lanzalone, G., Pagano, A., Papa, M., Pirrone, S., Politi, G., Porto, F., Russo, S., Sassi, M., Sechi, G.R., Zetta, L.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.08.2004)

by Alderighi, M., Amorini, F., Anzalone, A., Cardella, G., Cavallaro, S., DeFilippo, E., Ghilardi, D., Guazzoni, P., LaGuidara, E., Lanzano, G., Lanzalone, G., Maiolino, C., Pagano, A., Papa, M., Pirrone, S., Politi, G., Porto, F., Rizzo, F., Russo, S., Russotto, P., Santonocito, D., Sassi, M., Sechi, G.R., Zetta, L.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.10.2005)

by Alderighi, M., Anzalone, O., Bartolucci, M., Cardella, G., Cavallaro, S., De Filippo, E., Geraci, E., Giustolisi, F., Guazzoni, P., Iacono-Manno, M., Lanzalone, G., Lanzano, G., Manfredi, G., Opichal, P., Pagano, A., Papa, M., Pirrone, S., Politi, G., Porto, F., Russo, S., Sechi, G.R., Sperduto, L., Zetta, L.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.04.2002)

by Alderighi, M., Anzalone, A., Baruzzi, R., Cardella, G., De Filippo, E., Geraci, E., Giustolisi, F., Guazzoni, P., Lanzalone, G., Lanzano, G., Pagano, A., Papa, M., Pirrone, S., Politi, G., Porto, F., Russo, S., Sechi, G.R., Sperduto, L., Zetta, L.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.08.2002)

by Alderighi, M., Anzalone, A., Cali, C., Cardella, G., Cavallaro, S., De Filippo, E., Geraci, E., Giustolisi, F., Guazzoni, P., Su Hong, Gong Peirong, Iacono-Manno, M., Lanzalone, G., Lanzano, G., Litrico, P., Lo Nigro, S., Marino, S., Pagano, A., Papa, M., Pirrone, S., Politi, G., Porto, F., Russo, S., Sechi, G.R., Sperduto, L., Zetta, L.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.04.2002)

by Alderighi, M., Casini, F., D'Angelo, S., Salvi, D., Sechi, G.R.
Published in Proceedings 2001 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (2001)

by Sechi, G.R.
Published in Journal of systems architecture (01.04.1997)

by Alderighi, M., Casini, F., D'Angelo, S., Mancini, M., Marmo, A., Pastore, S., Sechi, G.R.
Published in Proceedings 18th IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (2003)

by Alderighi, M, Anzalone, A, Bartolucci, M, Cardella, G, Cavallaro, S, de Filippo, E, Geraci, E, Giustolisi, F, Guazzoni, P, Lanzalone, G, Lanzano, G, LoNigro, S, Manfredi, G, Pagano, A, Papa, M, Pirrone, S, Politi, G, Porto, F, Russo, S, Sala, A, Sambataro, S, Sechi, G.R, Sechi, R, Sperduto, L, Zetta, L
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.06.2001)

by Alderighi, M., Anzalone, A., Bartolucci, M., Cardella, G., Cavallaro, S., de Filippo, E., Geraci, E., Giustolisi, F., Guazzoni, P., Lanzalone, G., Lanzano, G., LoNigro, S., Manfredi, G., Pagano, A., Papa, M., Pirrone, S., Politi, G., Porto, F., Russo, S., Sala, A., Sambataro, S., Sechi, G.R., Sechi, R., Sperduto, L., Zetta, L.
Published in IEEE transactions on nuclear science (01.06.2001)

by D'Angelo, S., Metra, C., Pastore, S., Pogutz, A., Sechi, G.R.
Published in Proceedings 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Cat. No.98EX223) (1998)

by Alderighi, M., D'Angelo, S., Metra, C., Sechi, G.R.
Published in Proceedings IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (2000)

by Alderighi, M., D'Angelo, S., Piuri, V., Sechi, G.R.
Published in Proceedings 1999 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (EFT'99) (1999)

by Alderighi, M., D'Angelo, S., Mancini, M., Sechi, G.R.
Published in 9th IEEE On-Line Testing Symposium, 2003. IOLTS 2003 (2003)

by Alderighi, M., Sechi, G.R.
Published in [1990] Proceedings of the 23rd Annual Workshop and Symposium@m_MICRO 23: Microprogramming and Microarchitecture (1990)

by Mojoli, G.A., Salvi, D., Sami, M.G., Sechi, G.R., Stefanelli, R.
Published in Proceedings. 1996 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (1996)