by Świadkowski, Bartosz, Piasecki, Tomasz, Rudek, Maciej, Świątkowski, Michał, Gajewski, Krzysztof, Majstrzyk, Wojciech, Babij, Michał, Dzierka, Andrzej, Gotszalk, Teodor
Published in Metrology and Measurement systems (01.01.2020)

by Buczek, Alicja, Buczek, Weronika, Rudek, Maciej, Asman, Marek, Świsłocka, Magdalena, Bartosik, Katarzyna
Published in Annals of Agricultural and Environmental Medicine (25.03.2024)

by Janus, Paweł, Szmigiel, Dariusz, Sierakowski, Andrzej, Rudek, Maciej, Gotszalk, Teodor
Published in Ultramicroscopy (01.02.2021)

by Raczkowski, Kamil, Piasecki, Tomasz, Rudek, Maciej, Gotszalk, Teodor
Published in Measurement science & technology (01.03.2017)

by Janus, Paweł, Sierakowski, Andrzej, Rudek, Maciej, Kunicki, Piotr, Dzierka, Andrzej, Biczysko, Paweł, Gotszalk, Teodor
Published in Ultramicroscopy (01.10.2018)

by Janus, Paweł, Sierakowski, Andrzej, Grabiec, Piotr, Rudek, Maciej, Majstrzyk, Wojciech, Gotszalk, Teodor
Published in Microelectronic engineering (25.04.2017)

by wi tkowski, Micha, Wojtu, Arkadiusz, Wielgoszewski, Grzegorz, Rudek, Maciej, Piasecki, Tomasz, Jó wiak, Grzegorz, Gotszalk, Teodor
Published in Measurement science & technology (01.04.2018)

by Rudek, Maciej
Published in Zeszyty Naukowe Pro Publico Bono (18.12.2023)

by Hofer, Manuel, Ivanov, Tzvetan, Rudek, Maciej, Kopiec, Daniel, Guliyev, Elshad, Gotszalk, Teodor P., Rangelow, Ivo W.
Published in Microelectronic engineering (01.09.2015)

by Świadkowski, Bartosz, Piasecki, Tomasz, Rudek, Maciej, Świątkowski, Michał, Gajewski, Krzysztof, Majstrzyk, Wojciech, Babij, Michał, Dzierka, Andrzej, Gotszalk, Teodor
Published in Metrology and Measurement systems (08.01.2020)