by Pino, N., Ahmad, I., Albergo, S., Albuquerque, I., Atzori Corona, M., Ave, M., Bottino, B., Cadeddu, M., Caminata, A., Canci, N., Cesarano, R., Davini, S., Dias, L.K.S., Di Capua, F., Dolganov, G., Fiorillo, G., Franco, D., Gulino, M., Kemmerich, N., Kimura, M., Kuźniak, M., La Commara, M., Matteucci, G., Moura Santos, E., Oleynikov, V., Pandola, L., Perez Varona, R., Puglia, S.M.R., Rescigno, M., Sales Costa, B., Sanfilippo, S., Sunny, C., Suvorov, Y., Tartaglia, R., Testera, G., Tricomi, A., Wada, M., Wang, Y., Wojaczyński, R., Zakhary, P.
Published in Journal of instrumentation (01.04.2024)