by Adamovitch, M., Alexandrov, Y., Gerasimov, S., Kharlamov, S., Malinina, L., Zavertiaev, M., Antinori, F., Dameri, M., Hurst, R., Osculati, B., Rossi, L., Tomasini, G., Bailly, J.L., Buys, A., Grard, F., Legros, P., Forino, A., Gessaroli, R., Mazzanti, P., Quareni, A., Viaggi, F., Meroni, C., Redaelli, N., Torretta, D., Barberis, D., Beusch, W., Bourgeois, F., Corre, A., Davenport, M., Dufey, J.P., French, B.R., Jacholkowski, A., Knudson, K., Lassalle, J.C., Muller, F., Pegaitaz, R.
Published in IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (USA) (01.04.1990)