Structural disorder in SiGe films grown epitaxially on Si by ion beam sputter deposition
Parnis, D, Zolotoyabko, E, Kaplan, W.D, Eizenberg, M, Mosleh, N, Meyer, F, Schwebel, C
Published in Thin solid films (15.02.1997)
Published in Thin solid films (15.02.1997)
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Journal Article
High-resolution X-ray diffraction from imperfect heterostructures
Zolotoyabko, E., Parnis, D.
Published in Il nuovo cimento della Società italiana di fisica. Sezione D (01.02.1997)
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