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METHOD FOR DETERMINING TRACE METALS IN SILICON
ASCHL, Waltraud, STADLMAYR, Manuel, STEINKRESS, Peter, KAUTNICK, Theresa
Year of Publication 27.01.2022
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Patent
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Verfahren zum Herstellen eines Einkristall-Halbleiters
Shibata, Masahiro, Kawashima, Shigeki, Inagaki, Hiroshi, Fukuda, Nobuyuki
Year of Publication 15.12.2016
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Patent
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Verfahren zur Herstellung von Halbleiterscheiben aus Silizium mit einem Durchmesser von mindestens 450 mm
Miller, Alfred, Dr, Heuwieser, Walter, Sattler, Andreas, Raming, Georg
Year of Publication 14.07.2016
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Year of Publication 14.07.2016
Patent
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Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Einkristallen aus Halbleitermaterial
Abrosimov, Nikolai V., Dr, Renner, Matthias, Fischer, Jörg, Riemann, Helge, Dr
Year of Publication 09.06.2016
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Year of Publication 09.06.2016
Patent
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POLYCRYSTALLINE SILICON ROD AND PROCESS FOR PRODUCTION THEREOF
Kraus, Heinz, Dornberger, Erich, Weber, Martin, Pech, Reiner, Kerscher, Michael
Year of Publication 12.04.2017
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Patent