Showing 1 - 20 results of 33 for search '"ONNELA, A"', query time: 2.46s Refine Results  

Beam test performance of prototype silicon detectors for the Outer Tracker for the Phase-2 Upgrade of CMS

by Adam, W., Bergauer, T., Blöch, D., Brondolin, E., Dragicevic, M., Frühwirth, R., Hinger, V., Steininger, H., Beaumont, W., Croce, D. Di, Janssen, X., Lauwers, J., Mechelen, P. Van, Remortel, N. Van, Blekman, F., Chhibra, S.S., Clercq, J. De, D'Hondt, J., Lowette, S., Marchesini, I., Moortgat, S., Python, Q., Skovpen, K., Bols, E. SØrensen, Mulders, P. Van, Allard, Y., Beghin, D., Bilin, B., Brun, H., Clerbaux, B., Lentdecker, G. De, Delannoy, H., Deng, W., Favart, L., Goldouzian, R., Grebenyuk, A., Kalsi, A., Luetic, J., Makarenko, I., Moureaux, L., Popov, A., Postiau, N., Robert, F., Song, Z., Thomas, L., Vanlaer, P., Vannerom, D., Wang, Q., Wang, H., Yang, Y., Bondu, O., Bruno, G., Caputo, C., David, P., Delaere, C., Delcourt, M., Giammanco, A., Krintiras, G., Lemaitre, V., Magitteri, A., Piotrzkowski, K., Saggio, A., Szilasi, N., Marono, M. Vidal, Vischia, P., Zobec, J., Brigljević, V., Ceci, S., Ferenček, D., Roguljić, M., Starodumov, A., Šuša, T., Eerola, P., Heikkilä, J., Brücken, E., Lampén, T., Luukka, P., Martikainen, L., Tuominen, E., Tuuva, T., Agram, J.-L., Andrea, J., Bloch, D., Bonnin, C., Bourgatte, G., Brom, J.-M., Chabert, E., Charles, L., Cherepanov, V., Dangelser, E., Gelé, D., Goerlach, U., Gross, L., Krauth, M., Tonon, N., Baulieu, G., Boudoul, G., Caponetto, L., Chanon, N., Contardo, D.
Published in Journal of instrumentation (01.03.2020)

Get full text
Journal Article

Experimental study of different silicon sensor options for the upgrade of the CMS Outer Tracker

by Adam, W., Bergauer, T., Blöch, D., Brondolin, E., Dragicevic, M., Frühwirth, R., Hinger, V., Steininger, H., Treberer-Treberspurg, W., Beaumont, W., Croce, D. Di, Janssen, X., Lauwers, J., Mechelen, P. Van, Remortel, N. Van, Blekman, F., Chhibra, S.S., Clercq, J. De, D'Hondt, J., Lowette, S., Marchesini, I., Moortgat, S., Python, Q., Skovpen, K., Bols, E. SØrensen, Mulders, P. Van, Allard, Y., Beghin, D., Bilin, B., Brun, H., Clerbaux, B., Lentdecker, G. De, Delannoy, H., Deng, W., Favart, L., Goldouzian, R., Grebenyuk, A., Kalsi, A., Makarenko, I., Moureaux, L., Popov, A., Postiau, N., Robert, F., Song, Z., Thomas, L., Vanlaer, P., Vannerom, D., Wang, Q., Wang, H., Yang, Y., Bondu, O., Bruno, G., Caputo, C., David, P., Delaere, C., Delcourt, M., Giammanco, A., Krintiras, G., Lemaitre, V., Magitteri, A., Piotrzkowski, K., Saggio, A., Szilasi, N., Marono, M. Vidal, Vischia, P., Zobec, J., Brigljević, V., Ceci, S., Ferenček, D., Roguljić, M., Starodumov, A., \v{S}uša, T., Eerola, P., Heikkilä, J., Brücken, E., Lampén, T., Luukka, P., Martikainen, L., Tuominen, E., Tuuva, T., Agram, J.-L., Andrea, J., Bloch, D., Bonnin, C., Bourgatte, G., Brom, J.-M., Chabert, E., Charles, L., Dangelser, E., Gelé, D., Goerlach, U., Gross, L., Krauth, M., Tonon, N., Baulieu, G., Boudoul, G., Caponetto, L., Chanon, N., Contardo, D., Dené, P.
Published in Journal of instrumentation (01.04.2020)

Get full text
Journal Article

Test beam demonstration of silicon microstrip modules with transverse momentum discrimination for the future CMS tracking detector

by Adam, W., Bergauer, T., Brondolin, E., Dragicevic, M., Friedl, M., Frühwirth, R., Hoch, M., Hrubec, J., König, A., Steininger, H., Treberspurg, W., Waltenberger, W., Alderweireldt, S., Beaumont, W., Janssen, X., Lauwers, J., Mechelen, P. Van, Remortel, N. Van, Spilbeeck, A. Van, Beghin, D., Brun, H., Clerbaux, B., Lentdecker, G. De, Delannoy, H., Fasanella, G., Favart, L., Goldouzian, R., Grebenyuk, A., Karapostoli, G., Lenzi, T., Léonard, A., Luetic, J., Maerschalk, T., Marinov, A., Postiau, N., Randle-Conde, A., Seva, T., Vanlaer, P., Vannerom, D., Yonamine, R., Wang, Q., Yang, Y., Zenoni, F., Zhang, F., Zeid, S. Abu, Blekman, F., Bruyn, I. De, Clercq, J. De, D'Hondt, J., Deroover, K., Lowette, S., Moortgat, S., Moreels, L., Python, Q., Skovpen, K., Mulders, P. Van, Parijs, I. Van, Bakhshiansohi, H., Bondu, O., Brochet, S., Bruno, G., Caudron, A., Delaere, C., Delcourt, M., Visscher, S. De, Francois, B., Giammanco, A., Jafari, A., Jamoulle, J. Cabrera, Jeneret, J. De Favereau De, Komm, M., Krintiras, G., Lemaitre, V., Magitteri, A., Mertens, A., Michotte, D., Musich, M., Piotrzkowski, K., Quertenmont, L., Szilasi, N., Marono, M. Vidal, Wertz, S., Beliy, N., Caebergs, T., Daubie, E., Hammad, G.H., Härkönen, J., Lampén, T., Luukka, P., Peltola, T., Tuominen, E., Tuovinen, E., Eerola, P., Baulieu, G., Boudoul, G., Caponetto, L., Combaret, C., Contardo, D., Dupasquier, T., Gallbit, G.
Published in Journal of instrumentation (06.03.2018)

Get full text
Journal Article