Validation of 30 nm process simulation using 3D TCAD for FinFET devices
Nawaz, Muhammad, Molzer, Wolfgang, Haibach, Patrick, Landgraf, Erhard, Roesner, Wolfgang, Staedele, Martin, Luyken, Hannes, Gencer, Alp
Published in Semiconductor science and technology (01.08.2006)
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Journal Article
Integrated circuit device and method of manufacture
Wang, Peng-Fei, Nuetzel, Joachim, Weis, Rolf, Schloesser, Till, Strasser, Marc, Luyken, Hannes
Year of Publication 27.07.2010
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Patent
Integrated circuit device and method of manufacture
WANG PENG-FEI, STRASSER MARC, LUYKEN HANNES, NUETZEL JOACHIM, WEIS ROLF, SCHLOESSER TILL
Year of Publication 27.07.2010
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Patent
Herstellungsverfahren für einen Graben-Transistor und entsprechender Graben-Transistor
POPP, MARTIN, STRASSER, MARC, MOLL, HANS-PETER, WEIS, ROLF, LUYKEN, HANNES, SCHLOESSER, TILL
Year of Publication 24.09.2009
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Patent
Konzept zum schnittstellenmäßigen Verbinden einer ersten Schaltung, die eine erste Versorgungsspannung erfordert, und einer zweiten Versorgungsschaltung, die eine zweite Versorgungsspannung erfordert
BRAUN, GEORG, WOOD, STEVE, TROST, HANS-PETER, LUYKEN, HANNES, SCHEIDELER, DIRK, PRETE, EDOARDO, SANDERS, ANTHONY
Year of Publication 28.05.2015
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Patent
Method of manufacturing a transistor, a method of manufacturing a memory device and transistor
WANG PENG-FEI, STRASSER MARC, LUYKEN HANNES, NUETZEL JOACHIM, WEIS ROLF, SCHLOESSER TILL
Year of Publication 15.03.2007
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Patent
Method of manufacturing a transistor and a method of forming a memory device
WANG PENG-FEI, STRASSER MARC, LUYKEN HANNES, NUETZEL JOACHIM, WEIS ROLF, SCHLOESSER TILL
Year of Publication 25.05.2006
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Patent