Optimization method and device for direct measurement of an optical component
LE SAUX; GILLES, LAFAY; CHRISTOPHE, BERTRAND; PATRICK, LIPPENS; XAVIER
Year of Publication 03.12.1996
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Year of Publication 03.12.1996
Patent
Verfahren und Gerät zur absoluten Messung der geometrischen oder optischen Struktur eines optischen Bestandteiles
LE SAUX, GILLES, F-75012 PARIS, FR, LAFAY, CHRISTOPHE, F-75013 PARIS, FR, LIPPENS, XAVIER, F-75012 PARIS, FR, BERTRAND, PATRICK, F-92130 ISSY-LES-MOULINEAUX, FR
Year of Publication 04.09.1997
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Year of Publication 04.09.1997
Patent