by Degnan, J.H., Taccetti, J.M., Cavazos, T., Clark, D., Coffey, S.K., Faehl, R.J., Frese, M.H., Fulton, D., Gueits, J.C., Gale, D., Hussey, T.W., Intrator, T.P., Kirkpatrick, R.C., Kiuttu, G.H., Lehr, F.M., Letterio, J.D., Lindemuth, I., McCullough, W.F., Moses, R., Peterkin, R.E., Reinovsky, R.E., Roderick, N.F., Ruden, E.L., Shlachter, J.S., Schoenberg, K.F., Siemon, R.E., Sommars, W., Turchi, P.J., Wurden, G.A., Wysocki, F.
Published in IEEE transactions on plasma science (01.02.2001)