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Track reconstruction and matching between emulsion and silicon pixel detectors for the SHiP-charm experiment

by Akmete, A., Atkin, E., Barker, G.J., Bauche, J., Bay, A., Bertani, M., Bezshyiko, I., Bondarenko, K., Borburgh, J., Brenner, R., Cadeddu, S., Calviani, M., Charitonidis, N., Chernyavskiy, M., Chumakov, A., de Magistris, M., De Roeck, A., Dedenko, L., Dergachev, P., Di Crescenzo, A., Dijkstra, H., Dougherty, L.A., Dolmatov, A., Drohan, V., Dubreuil, A., Ehlert, M., Fini, R.A., Fraser, M., Fresa, R., Froeschl, R., Gavrilov, G., Golubkov, D., Gorbunov, S., Gorshenkov, M., Grandchamp, A.L., Grenier, D., Guler, A.M., van Herwijnen, E., Hosseini, B., Jonker, M., Kain, V., Karpenkov, D., Kodama, K., Koukovini Platia, E., Kovalenko, S., Krasilnikova, I., Kudenko, Y., Kurbatov, P., Lacker, H.M., Lanfranchi, G., Lee, K.Y., Loschiavo, V.P., Lyons, F., Maleev, V., Manabe, Y., Managadze, A.K., Marsh, S., Marshall, A.M., Milstead, D.A., Naganawa, N., Nishio, A., Ogawa, S., Ovchynnikov, M., Pastore, A., Patel, M., Pereyma, D., Podgrudkov, D., Prota, A., Quercia, A., Reghunath, A., Ricciardi, S., Robbe, P., Roganova, T., Rovelli, T., Santos Diaz, P., Sanz Ull, A., Sgobba, S., Shadura, O., Shakin, A., Shchedrina, T., Shchutska, L., Smirnov, S., Soares, G., Starkov, N., Tastet, J.L., Than Naing, S., Tommasini, D., Torii, M., Treille, D., Tsenov, R., Ulin, S., Venturi, V., Vilchinski, S., Visone, C., Vlasik, K., Wanke, R., Williams, O., Wurm, M., Xella, S., Yilmaz, D.
Published in Journal of instrumentation (01.03.2022)

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Journal Article

The magnet of the scattering and neutrino detector for the SHiP experiment at CERN

by Ahdida, C., Albanese, R., Alexandrov, A., Anokhina, A., Aoki, S., Arduini, G., Atkin, E., Azorskiy, N., Back, J.J., Bagulya, A., Santos, F. Baaltasar Dos, Baranov, A., Bardou, F., Barker, G.J., Battistin, M., Bauche, J., Bay, A., Bayliss, V., Bencivenni, G., Berdnikov, A.Y., Berdnikov, Y.A., Berezkina, I., Bertani, M., Betancourt, C., Bezshyiko, I., Bezshyyko, O., Bick, D., Bieschke, S., Blanco, A., Boehm, J., Bogomilov, M., Bondarenko, K., Bonivento, W.M., Borburgh, J., Boyarsky, A., Brenner, R., Breton, D., Brundler, R., Bruschi, M., Büscher, V., Buonaura, A., Buontempo, S., Cadeddu, S., Calcaterra, A., Calviani, M., Campanelli, M., Casolino, M., Charitonidis, N., Chau, P., Chauveau, J., Chepurnov, A., Chernyavskiy, M., Choi, K.-Y., Chumakov, A., Ciambrone, P., Congedo, L., Cornelis, K., Cristinziani, M., Crupano, A., Dallavalle, G.M., Datwyler, A., D'Ambrosio, N., D'Appollonio, G., Saraiva, J. De Carvalho, Lellis, G. De, de Magistris, M., Roeck, A. De, Serio, M. De, Simone, D. De, Dedenko, L., Dergachev, P., Crescenzo, A. Di, Dib, C., Dijkstra, H., Dipinto, P., Dmitrenko, V., Dmitrievskiy, S., Dougherty, L.A., Dolmatov, A., Domenici, D., Donskov, S., Drohan, V., Dubreuil, A., Ehlert, M., Enik, T., Etenko, A., Fabbri, F., Fabbri, L., Fabich, A., Fedin, O., Fedotovs, F., Felici, G., Ferro-Luzzi, M., Filippov, K., Fini, R.A., Fonte, P., Franco, C., Fraser, M., Fresa, R., Froeschl, R.
Published in Journal of instrumentation (01.01.2020)

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