by Bertazzoni, S., Cardarilli, G.C., Piergentili, D., Salmeri, M., Salsano, A., Di Giovenale, D., Grande, G.C., Marinucci, P., Sperandei, S., Bartalucci, S., Massenga, G., Ricci, M., Bidoli, V., De Francesco, D., Picozza, P.G., Rovelli, A.
Published in Proceedings 1999 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (EFT'99) (1999)