by Bulzacchelli, J. F., Menolfi, C., Beukema, T. J., Storaska, D. W., Hertle, J., Hanson, D. R., Ping-Hsuan Hsieh, Rylov, S. V., Furrer, D., Gardellini, D., Prati, A., Morf, T., Sharma, V., Kelkar, R., Ainspan, H. A., Kelly, W. R., Chieco, L. R., Ritter, G. A., Sorice, J. A., Garlett, J. D., Callan, R., Brandli, M., Buchmann, P., Kossel, M., Toifl, T., Friedman, D. J.
Published in IEEE journal of solid-state circuits (01.12.2012)