by De Meester, Jolien, Boeve-de Pauw, Jelle, Buyse, Marie-Paule, Ceuppens, Stijn, De Cock, Mieke, De Loof, Haydée, Goovaerts, Leen, Hellinckx, Luc, Knipprath, Heidi, Struyf, Annemie, Thibaut, Lieve, Van de Velde, Didier, Van Petegem, Peter, Dehaene, Wim
Published in European review (Chichester, England) (01.08.2020)

by Knipprath, Heidi, Thibaut, Lieve, Buyse, Marie-Paule, Ceuppens, Stijn, De Loof, Haydee, De Meester, Jolien, Goovaerts, Leen, Struyf, Annemie, Boeve-De Pauw, Jelle, Depaepe, Fien, Deprez, Johan, De Cock, Mieke, Hellinckx, Luc, Langie, Greet, Struyven, Katrien, Van De Velde, Didier, Peter Van Petegem, Dehaene, Wim
Published in IEEE instrumentation & measurement magazine (01.06.2018)

by Knipprath, Heidi, Depaepe, Fien, Deprez, Johan, De Cock, Mieke, Hellinckx, Luc, Langie, Greet, Struyven, Katrien, Van de Velde, Didier, Van Petegem, Peter, Dehaene, Wim, Thibaut, Lieve, Buyse, Marie-Paule, Ceuppens, Stijn, De Loof, Haydee, De Meester, Jolien, Goovaerts, Leen, Struyf, Annemie, Pauw, Jelle Boeve-De
Published in IEEE instrumentation & measurement magazine (01.06.2018)