Nuevos paradigmas en el diagnóstico de fallos en sistemas industriales
Orestes Llanes Santiago, Antonio J. Silva Neto, Marcos Quiñones Grueiro, Alberto Prieto Moreno, Adrián Rodríguez Ramos, José Manuel Bernal de Lázaro, Cristina Verde Rodarte, Lídice Camps Echevarría, José Luis Verdegay Galdeano, Carlos Cruz Corona, Maibeth Sánchez Rivero, Diego Campos Knupp, Pedro Rivera Torres, Haroldo Fraga Campos Velho
Published in Anales de la Academia de Ciencias de Cuba (01.01.2022)
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